偵測不到亮點之情況不會出現(xiàn)亮點之故障:1.亮點位置被擋到或遮蔽的情形(埋入式的接面及大面積金屬線底下的漏電位置);2.歐姆接觸;3.金屬...
EMMI 技術(shù)自誕生以來,經(jīng)歷了漫長且關(guān)鍵的發(fā)展歷程。早期的 EMMI 受限于探測器靈敏度與光學(xué)系統(tǒng)分辨率,只能檢測較為明顯的半導(dǎo)體缺陷,應(yīng)...
隨著半導(dǎo)體器件向先進(jìn)封裝(如 2.5D/3D IC、Chiplet 集成)方向發(fā)展,傳統(tǒng)失效分析方法在穿透力和分辨率之間往往存在取舍。而 T...
Thermal和EMMI是半導(dǎo)體失效分析中常用的兩種定位技術(shù),主要區(qū)別在于信號來源和應(yīng)用場景不同。Thermal(熱紅外顯微鏡)通過紅外成像...
蘇州致晟光電科技有限公司作為光電技術(shù)領(lǐng)域創(chuàng)新先鋒,依托南京理工大學(xué)–光電技術(shù)學(xué)院的科研優(yōu)勢,構(gòu)建產(chǎn)學(xué)研深度融合的技術(shù)研發(fā)體系。我司專注于微弱信號處理技術(shù)深度開發(fā)與場景化應(yīng)用,已成功推出多系列光電檢測設(shè)備及智能化解決方案。 致晟光電秉承著以用戶的實際需求為錨點,將研發(fā)與需求緊密結(jié)合,致力于為客戶創(chuàng)造實用、易用且高附加值的產(chǎn)品。我司通過自主創(chuàng)新,追求用戶體驗,為企業(yè)提供從生產(chǎn)線到實驗室完備的失效分析解決方案。