正壓標(biāo)準(zhǔn)漏孔，在正壓檢漏中,要考慮通過漏孔的質(zhì)量泄漏,更要考慮與環(huán)境的熱能交換。換言之，就是正壓檢漏及正壓漏孔校準(zhǔn)受溫度的影響較為嚴(yán)重。而真空檢漏壓力一般在1Pa及以下,受溫度影響小。正壓檢漏往往需要在不同的壓力條件下進行，所以也必須對正壓漏孔在該條件下進行校準(zhǔn)。而真空漏孔一般的校準(zhǔn)條件是進口壓力為一個大氣壓，出口壓力為真空，狀態(tài)較為簡單。和真空檢漏一般使用氦氣不同，正壓檢漏往往可以使用氦氣、空氣、氮氣等氣體，所以需要用不同氣體對正壓漏孔進行校準(zhǔn)。正是由于以上原因，對正壓漏孔的校準(zhǔn)技術(shù)提出了新的、更高的要求，需要進一步開展研究工作，提出測量范圍寬，不確定度小的正壓漏孔校準(zhǔn)方法，研制校準(zhǔn)裝置。同時，真空漏孔和正壓漏孔的校準(zhǔn)是不同壓力條件下的漏率校準(zhǔn)，所以真空漏孔的校準(zhǔn)技術(shù)也很值得借鑒。標(biāo)準(zhǔn)漏孔在電池密封檢漏中經(jīng)常使用。青島冷媒標(biāo)準(zhǔn)漏孔

正壓漏率與真空漏率:正壓漏率是指泄漏到大氣的漏率，真空漏率是泄漏到真空的漏率。漏孔漏率包含分子流與粘滯流，其中分子流與壓力差成正比，粘滯流與壓力平方差成正比。一般來說，對于同一個漏孔，內(nèi)部壓力>10Bar，正壓漏率≈真空漏率。漏孔壓力與漏率衰減計算:10-1-10-6mbar.L/sec的漏孔,漏率與壓力平方成近似正比，壓力衰減，漏率也會衰減。計算時假定一段時間△t漏率不變，例如1個160cc的氣室，充氣壓力106bar，起始漏率=2.80E-5mbar.L/s。我們?nèi)?天為△t，以計算1天衰減后的壓力和漏率(同樣△t可以去1h,1min,或ls，乃至更小，但計算量線性增加)再以該計算的漏率計算第2天衰減后的壓力和漏率，以此類推，可以計算1年或某個時間的壓力衰減及漏率。 常州冷媒漏孔標(biāo)準(zhǔn)漏孔可用于檢漏系統(tǒng)的調(diào)試與驗證 。

組成與工作原理：標(biāo)準(zhǔn)漏孔主要由漏孔元件、氣室、漏孔閥、充氣閥和連接件構(gòu)成。漏孔元件是允許氣體從壓力相對高的一側(cè)進入壓力低的一側(cè)的重要元件，其要求包括與所連接的系統(tǒng)相容、安全可靠、可重復(fù)地將氣流限制在所要求的水平、具有剛性和耐久性、不怕堵塞和污染、只允許一種所要求的氣體通過。氣室是向漏孔進氣端提供氣源的裝置，要求供氣充足以避免漏率隨時間而發(fā)生較大的變化。漏孔閥是把控漏孔與所連系統(tǒng)氣流的裝置，關(guān)閉時還可以保護漏孔元件免受來自所連系統(tǒng)或環(huán)境大氣的污染

JJF 1946-2022 《鹵素檢漏儀校準(zhǔn)規(guī)范》,規(guī)范條文解釋：本規(guī)范適用于可檢漏率為（1.0×10-6 ~1.0×10-4）Pa.m3/s的鹵素檢漏儀的校準(zhǔn)，其他制冷劑的檢漏儀也可以參考本規(guī)范執(zhí)行。解釋：與目前鹵素檢漏儀校準(zhǔn)用標(biāo)準(zhǔn)器（鹵素標(biāo)準(zhǔn)漏孔）的可溯源范圍相適應(yīng)，待發(fā)布的正壓漏孔校準(zhǔn)規(guī)范使用范圍（10-6~10-4）Pa.m3/s，與檢漏儀的實際測量范圍（1-10）g/a對應(yīng)。測量標(biāo)準(zhǔn)：測量標(biāo)準(zhǔn)為提供某種特定鹵素氣體的已知漏率的鹵素標(biāo)準(zhǔn)漏孔，如表所示，鹵素標(biāo)準(zhǔn)漏孔應(yīng)具有定位槽以便于檢漏儀定位。解釋：通常配備多個標(biāo)準(zhǔn)漏孔，一個標(biāo)準(zhǔn)漏孔對應(yīng)一種示漏氣體，根據(jù)被校檢漏儀選擇相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)漏孔。標(biāo)準(zhǔn)漏孔能為各類檢漏結(jié)果提供可靠依據(jù)。

氦質(zhì)譜檢漏儀的工作原理是對離子源電離的氦氣分子數(shù)量進行量化，而到達質(zhì)譜室離子源的氦氣分子數(shù)量只是泄漏的分子總量的一部分，這就是分流比。在環(huán)境參數(shù)變化時，這個分流比會有變化，檢漏儀根據(jù)內(nèi)置漏孔1個點做出的擬合曲線很難做到符合全量程：例如一臺檢漏儀的內(nèi)置漏孔是E-7mbarL/s，說明這臺檢漏儀在接近E-7mbarL/s的漏率區(qū)間如[E-6,E-8]是可能準(zhǔn)確的，可能到E-9就很不準(zhǔn)確。建議用2個標(biāo)準(zhǔn)漏孔對氦質(zhì)譜檢漏儀進行標(biāo)定。事實上，包括很多主流檢漏儀廠家Z初都是不提供內(nèi)置漏孔自檢的，而是用戶購置接近自己工件要求漏率的標(biāo)準(zhǔn)漏孔進行標(biāo)定。如待測工件合格漏率要求為2.50x10-8mbar.L/s,Z好是購置一個接近該漏率的標(biāo)準(zhǔn)漏孔如3.00x10-8mbar.L/s，經(jīng)過校準(zhǔn)的檢漏儀不需要自檢通過也能準(zhǔn)確的判斷產(chǎn)品是否合格。建議用戶在選購?fù)庵脴?biāo)準(zhǔn)漏孔，盡量接近產(chǎn)品合格要求漏率，東貝真空可以提供從E-2到E-12mbarL/s的標(biāo)準(zhǔn)漏孔。用戶可選用帶氣室的標(biāo)準(zhǔn)漏孔或開放式漏孔。標(biāo)準(zhǔn)漏孔是真空檢漏領(lǐng)域不可或缺的基準(zhǔn)工具。常州冷媒漏孔

標(biāo)準(zhǔn)漏孔在壓力容器檢漏中應(yīng)用較多。青島冷媒標(biāo)準(zhǔn)漏孔

檢漏方法：人們對于泄漏的檢測很早就已經(jīng)出現(xiàn)，檢漏方法也經(jīng)歷了從簡單的定性檢測到現(xiàn)代復(fù)雜的定量檢測過程。檢漏方法根據(jù)被檢設(shè)備所處的狀態(tài)又可分為加壓檢漏法和真空檢漏法。加壓檢漏法將被檢件內(nèi)部充以比外部壓力更高的示蹤氣體，在被檢件外面用適當(dāng)?shù)姆椒ㄅ袛嘤袩o示蹤氣體漏出、從哪兒漏出、漏出量多少等，進而判斷被檢件有無泄漏點，泄漏點的位置和大小。屬于這種方法的有壓降法、氣泡法、鹵素檢漏儀外探頭法、鹵素噴燈法、加壓滲透法、聲波法、紅外線熱圖像法、稱質(zhì)量法、放射性同位素法。真空檢漏法被檢件內(nèi)部抽成真空后，將示蹤氣體施于被檢件外部，如果被檢件器壁上有漏，示蹤氣體通過泄漏點進入被檢件內(nèi)部，利用某種方法將漏進的示蹤氣體檢測出來，從而判斷出泄漏點的位置和漏率大小。屬于這種方法的有靜態(tài)升壓法、放電管法、鹵素檢漏儀內(nèi)探頭法、各類真空計法、離子泵檢漏法、氦質(zhì)譜噴吹和氦罩檢漏法等。青島冷媒標(biāo)準(zhǔn)漏孔