汽車(chē)零部件的失效會(huì)影響汽車(chē)的安全性和性能。聯(lián)華檢測(cè)通過(guò)多種測(cè)試對(duì)汽車(chē)零部件進(jìn)行失效分析,例如振動(dòng)測(cè)試,模擬汽車(chē)在行駛過(guò)程中的各種振動(dòng)情況,觀察零部件是否會(huì)因振動(dòng)而松動(dòng)、損壞,一些零部件在長(zhǎng)期振動(dòng)下,連接部位的螺栓可能會(huì)松動(dòng),導(dǎo)致零部件脫落。鹽霧腐蝕測(cè)試,評(píng)估零部件在潮濕含鹽環(huán)境下的耐腐蝕性能,汽車(chē)在沿海地區(qū)行駛或冬季撒鹽除雪的道路上行駛時(shí),零部件易受到鹽霧侵蝕,若耐腐蝕性能不足,會(huì)出現(xiàn)生銹、腐蝕穿孔等問(wèn)題。此外,還有機(jī)械沖擊、自由跌落等測(cè)試,模擬汽車(chē)在碰撞、顛簸路況下零部件的受力情況。通過(guò)這些測(cè)試,找出汽車(chē)零部件失效原因,幫助汽車(chē)制造商改進(jìn)產(chǎn)品質(zhì)量先進(jìn)的失效分析設(shè)備,保證分析結(jié)果準(zhǔn)確無(wú)誤。蘇州...
線路板短路是致使電子設(shè)備頻繁出現(xiàn)故障的常見(jiàn)原因。廣州聯(lián)華檢測(cè)在處理線路板短路失效分析時(shí),第一步是進(jìn)行細(xì)致的外觀檢查。借助高分辨率顯微鏡,對(duì)線路板表面進(jìn)行專(zhuān)業(yè)查看,不放過(guò)任何細(xì)微痕跡,仔細(xì)檢查是否有燒痕、異物、線路破損等情況。一旦發(fā)現(xiàn)燒痕,大概率是短路時(shí)大電流產(chǎn)生高溫造成的。外觀檢查完成后,會(huì)運(yùn)用專(zhuān)業(yè)的電路測(cè)試設(shè)備,對(duì)線路板的電路進(jìn)行逐點(diǎn)檢測(cè),以此來(lái)精細(xì)確定短路的位置。要是外觀沒(méi)有明顯異常,就會(huì)采用絕緣電阻測(cè)試儀,測(cè)量線路之間的絕緣電阻,判斷是不是因?yàn)榻^緣性能下降而引發(fā)短路。對(duì)于結(jié)構(gòu)復(fù)雜的多層線路板,廣州聯(lián)華檢測(cè)還會(huì)運(yùn)用 X 射線斷層掃描技術(shù),深入觀察內(nèi)部線路的連接狀況,排查內(nèi)部線路短路的可能性...
電子元器件焊點(diǎn)開(kāi)裂會(huì)使電子產(chǎn)品的電氣連接變得不穩(wěn)定。廣州聯(lián)華檢測(cè)在處理電子元器件焊點(diǎn)開(kāi)裂失效分析時(shí),首先對(duì)焊點(diǎn)進(jìn)行外觀檢查,觀察焊點(diǎn)形狀是否規(guī)則,表面是否光滑,有無(wú)明顯裂縫。焊點(diǎn)形狀不規(guī)則,往往暗示焊接時(shí)溫度、時(shí)間控制得不好。隨后,利用 X 射線探傷技術(shù),檢測(cè)焊點(diǎn)內(nèi)部狀況,查看是否存在氣孔、夾渣等內(nèi)部缺陷,這些缺陷會(huì)降低焊點(diǎn)強(qiáng)度,在后續(xù)使用過(guò)程中容易引發(fā)焊點(diǎn)開(kāi)裂。接著,通過(guò)金相分析,在顯微鏡下觀察焊接接頭的微觀組織,判斷焊接熱影響區(qū)的大小,熱影響區(qū)過(guò)大可能導(dǎo)致材料性能劣化,增加焊點(diǎn)開(kāi)裂的風(fēng)險(xiǎn)。此外,還會(huì)進(jìn)行電氣性能測(cè)試,測(cè)量焊接部位的電阻,要是電阻過(guò)大,表明電氣連接不可靠,可能是焊點(diǎn)開(kāi)裂或接觸...
金屬材料在眾多行業(yè)應(yīng)用專(zhuān)業(yè),其腐蝕失效問(wèn)題不容小覷。廣州聯(lián)華檢測(cè)在開(kāi)展金屬材料腐蝕失效分析時(shí),首先會(huì)進(jìn)行宏觀檢查。技術(shù)人員會(huì)仔細(xì)觀察金屬材料的外觀,涵蓋腐蝕區(qū)域的位置、范圍,以及腐蝕產(chǎn)物的顏色、形態(tài)等特征。比如一些在沿海地區(qū)使用的金屬設(shè)備,若出現(xiàn)大面積銹斑,初步判斷可能是遭受鹽霧腐蝕。宏觀檢查之后進(jìn)行微觀分析,運(yùn)用金相顯微鏡觀察金屬材料的微觀組織結(jié)構(gòu),查看晶粒是否均勻,有無(wú)異常組織形態(tài),因?yàn)槟承┊惓=M織可能會(huì)加速腐蝕進(jìn)程。同時(shí),利用掃描電子顯微鏡進(jìn)一步觀察材料表面和內(nèi)部的腐蝕缺陷,例如腐蝕坑的深度、大小,內(nèi)部是否存在裂紋等。此外,還會(huì)進(jìn)行化學(xué)成分分析,依據(jù)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn),如 GB/T 20123 -...
電子元器件焊點(diǎn)開(kāi)裂會(huì)使電子產(chǎn)品的電氣連接變得不穩(wěn)定。廣州聯(lián)華檢測(cè)在處理電子元器件焊點(diǎn)開(kāi)裂失效分析時(shí),首先對(duì)焊點(diǎn)進(jìn)行外觀檢查,觀察焊點(diǎn)形狀是否規(guī)則,表面是否光滑,有無(wú)明顯裂縫。焊點(diǎn)形狀不規(guī)則,往往暗示焊接時(shí)溫度、時(shí)間控制得不好。隨后,利用 X 射線探傷技術(shù),檢測(cè)焊點(diǎn)內(nèi)部狀況,查看是否存在氣孔、夾渣等內(nèi)部缺陷,這些缺陷會(huì)降低焊點(diǎn)強(qiáng)度,在后續(xù)使用過(guò)程中容易引發(fā)焊點(diǎn)開(kāi)裂。接著,通過(guò)金相分析,在顯微鏡下觀察焊接接頭的微觀組織,判斷焊接熱影響區(qū)的大小,熱影響區(qū)過(guò)大可能導(dǎo)致材料性能劣化,增加焊點(diǎn)開(kāi)裂的風(fēng)險(xiǎn)。此外,還會(huì)進(jìn)行電氣性能測(cè)試,測(cè)量焊接部位的電阻,要是電阻過(guò)大,表明電氣連接不可靠,可能是焊點(diǎn)開(kāi)裂或接觸...
芯片失效分析是一項(xiàng)復(fù)雜且專(zhuān)業(yè)的工作。聯(lián)華檢測(cè)在進(jìn)行芯片失效分析時(shí),首先會(huì)深入了解芯片的工作原理與應(yīng)用場(chǎng)景。接著開(kāi)展一系列測(cè)試,例如電學(xué)性能測(cè)試,通過(guò)對(duì)芯片的電流、電壓等參數(shù)測(cè)量,判斷芯片內(nèi)部電路是否存在短路、斷路等問(wèn)題;熱性能測(cè)試,檢測(cè)芯片在不同工作狀態(tài)下的發(fā)熱情況,排查因過(guò)熱導(dǎo)致的性能下降或損壞。若發(fā)現(xiàn)芯片存在物理?yè)p傷,會(huì)進(jìn)一步進(jìn)行切片分析,利用高精度的切片設(shè)備將芯片切開(kāi),借助顯微鏡等設(shè)備觀察芯片內(nèi)部的結(jié)構(gòu)和材料,從微觀層面找出失效根源。無(wú)論是制造缺陷,如芯片生產(chǎn)過(guò)程中的光刻偏差、雜質(zhì)污染;設(shè)計(jì)失誤,像電路設(shè)計(jì)不合理、功耗計(jì)算錯(cuò)誤;還是外部環(huán)境影響,比如過(guò)高的溫度、濕度、電磁干擾等,都能通過(guò)...
工業(yè)機(jī)器人關(guān)節(jié)部件失效會(huì)使機(jī)器人運(yùn)動(dòng)精度下降,甚至無(wú)法正常工作。廣州聯(lián)華檢測(cè)對(duì)工業(yè)機(jī)器人關(guān)節(jié)部件失效進(jìn)行分析時(shí),先對(duì)失效關(guān)節(jié)部件進(jìn)行外觀檢查,查看是否有磨損、變形、斷裂等明顯損壞跡象。關(guān)節(jié)軸承磨損導(dǎo)致關(guān)節(jié)運(yùn)動(dòng)卡頓,連桿變形影響運(yùn)動(dòng)軌跡,部件斷裂使關(guān)節(jié)失去運(yùn)動(dòng)功能。通過(guò)測(cè)量關(guān)節(jié)部件尺寸,與原始設(shè)計(jì)尺寸對(duì)比,確定磨損或變形程度。運(yùn)用硬度測(cè)試設(shè)備,檢測(cè)關(guān)節(jié)部件材料硬度,判斷材料是否因熱處理不當(dāng)?shù)仍驅(qū)е掠捕炔环弦蟆?duì)關(guān)節(jié)部件材料進(jìn)行成分分析,用光譜分析儀確定化學(xué)成分,查看是否存在材料質(zhì)量問(wèn)題。同時(shí),分析工業(yè)機(jī)器人工作負(fù)載、運(yùn)行頻率、潤(rùn)滑條件等因素。長(zhǎng)期高負(fù)載運(yùn)行、潤(rùn)滑不良都可能加速關(guān)節(jié)部件磨損和...
芯片作為各類(lèi)電子設(shè)備的專(zhuān)業(yè),其封裝的可靠性至關(guān)重要。廣州聯(lián)華檢測(cè)在應(yīng)對(duì)芯片封裝失效分析時(shí),運(yùn)用 X 射線檢測(cè)技術(shù),穿透芯片封裝外殼,清晰呈現(xiàn)內(nèi)部結(jié)構(gòu)。通過(guò) X 射線成像,技術(shù)人員可定位焊點(diǎn)異常,如虛焊、冷焊,這些問(wèn)題會(huì)使芯片引腳與電路板連接不穩(wěn),導(dǎo)致信號(hào)傳輸中斷。同時(shí),成像還能排查線路布局問(wèn)題,對(duì)于多層線路板構(gòu)成的復(fù)雜芯片封裝,能展示線路是否存在短路、斷路,以及線路位置、長(zhǎng)度、寬度是否符合設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)。此外,X 射線檢測(cè)可發(fā)現(xiàn)封裝材料內(nèi)部的氣泡、裂縫、分層等缺陷,這些缺陷會(huì)削弱芯片的密封性能與機(jī)械強(qiáng)度,使芯片易受外界環(huán)境干擾而失效。在整個(gè)檢測(cè)過(guò)程中,技術(shù)人員仔細(xì)記錄成像細(xì)節(jié),結(jié)合芯片設(shè)計(jì)資料與實(shí)際...
當(dāng)金屬材料出現(xiàn)斷裂、變形、腐蝕等失效現(xiàn)象時(shí),聯(lián)華檢測(cè)的專(zhuān)業(yè)團(tuán)隊(duì)會(huì)展開(kāi)詳細(xì)分析。首先進(jìn)行宏觀檢查,仔細(xì)觀察金屬材料的外觀特征,比如裂紋的形態(tài)(是疲勞裂紋、脆性裂紋還是韌性裂紋)、位置(裂紋起始于表面還是內(nèi)部)等。之后進(jìn)行微觀分析,運(yùn)用金相顯微鏡觀察金屬材料的組織結(jié)構(gòu),判斷晶粒大小是否均勻、是否存在異常的組織形態(tài);利用掃描電子顯微鏡進(jìn)一步觀察材料內(nèi)部的缺陷,如夾雜物、孔洞等。此外,還會(huì)進(jìn)行化學(xué)成分分析,依據(jù)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)(如 GB/T 20123 - 2006 等),檢測(cè)金屬材料的成分是否符合要求,是否因雜質(zhì)含量過(guò)高導(dǎo)致性能下降。通過(guò)綜合分析,確定金屬材料失效是源于材料本身質(zhì)量問(wèn)題,還是加工工藝(如鍛造...
高分子材料制品在長(zhǎng)期使用過(guò)程中易出現(xiàn)老化失效現(xiàn)象。聯(lián)華檢測(cè)針對(duì)高分子材料制品老化失效分析,會(huì)先詳細(xì)了解制品的使用環(huán)境,包括溫度、濕度、光照情況以及使用時(shí)間等信息。如果制品長(zhǎng)期處于高溫環(huán)境,高分子鏈可能會(huì)發(fā)生熱降解,導(dǎo)致材料性能下降;若暴露在陽(yáng)光下,紫外線照射可能引發(fā)光老化,使材料表面變色、變脆。通過(guò)紅外光譜分析技術(shù),檢測(cè)高分子材料的化學(xué)結(jié)構(gòu)變化,判斷是否發(fā)生了化學(xué)鍵的斷裂、交聯(lián)等反應(yīng),這些化學(xué)結(jié)構(gòu)的改變會(huì)直接影響材料性能。利用熱重分析測(cè)試材料在加熱過(guò)程中的質(zhì)量變化,評(píng)估其熱穩(wěn)定性。同時(shí),進(jìn)行力學(xué)性能測(cè)試,如拉伸試驗(yàn)、彎曲試驗(yàn)等,對(duì)比老化前后材料的力學(xué)性能差異。根據(jù)專(zhuān)業(yè)的分析結(jié)果,為客戶提供延緩...
電子元器件的焊點(diǎn)失效會(huì)致使電子產(chǎn)品出現(xiàn)電氣連接問(wèn)題。聯(lián)華檢測(cè)針對(duì)焊點(diǎn)失效分析,首先會(huì)對(duì)焊點(diǎn)進(jìn)行外觀檢查,觀察焊點(diǎn)的形狀是否規(guī)則、表面是否光滑、有無(wú)虛焊或焊料不足的情況。不規(guī)則的焊點(diǎn)形狀往往暗示焊接時(shí)溫度控制不佳或焊接時(shí)間不合適。接著利用 X 射線探傷技術(shù),深入檢測(cè)焊點(diǎn)內(nèi)部,查看是否存在氣孔、夾渣等內(nèi)部缺陷,這些缺陷會(huì)極大降低焊點(diǎn)的強(qiáng)度和導(dǎo)電性。然后通過(guò)金相分析,在顯微鏡下觀察焊接接頭的微觀組織,判斷焊接熱影響區(qū)的大小,熱影響區(qū)過(guò)大可能導(dǎo)致材料性能劣化。此外,還會(huì)進(jìn)行電氣性能測(cè)試,精確測(cè)量焊接部位的電阻,若電阻過(guò)大,表明電氣連接不可靠。根據(jù)詳細(xì)分析結(jié)果,為企業(yè)提供完善焊接工藝的建議,例如合理調(diào)整...
金屬材料在眾多行業(yè)廣泛應(yīng)用,其腐蝕失效問(wèn)題不容小覷。廣州聯(lián)華檢測(cè)開(kāi)展金屬材料腐蝕失效分析時(shí),首先進(jìn)行宏觀檢查。技術(shù)人員仔細(xì)觀察金屬材料外觀,包括腐蝕區(qū)域的位置、范圍,以及腐蝕產(chǎn)物的顏色、形態(tài)等特征。例如,沿海地區(qū)使用的金屬設(shè)備出現(xiàn)大面積銹斑,初步判斷可能受鹽霧腐蝕。宏觀檢查后進(jìn)行微觀分析,運(yùn)用金相顯微鏡觀察金屬材料微觀組織結(jié)構(gòu),查看晶粒是否均勻,有無(wú)異常組織形態(tài),某些異常組織可能加速腐蝕進(jìn)程。同時(shí),利用掃描電子顯微鏡進(jìn)一步觀察材料表面和內(nèi)部的腐蝕缺陷,如腐蝕坑的深度、大小,內(nèi)部是否存在裂紋等。此外,依據(jù)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)(如 GB/T 20123 - 2006 等)進(jìn)行化學(xué)成分分析,檢測(cè)金屬材料成分,判...
電子元器件焊點(diǎn)開(kāi)裂會(huì)導(dǎo)致電子產(chǎn)品電氣連接不穩(wěn)定。廣州聯(lián)華檢測(cè)處理電子元器件焊點(diǎn)開(kāi)裂失效分析時(shí),首先對(duì)焊點(diǎn)進(jìn)行外觀檢查,觀察焊點(diǎn)形狀是否規(guī)則,表面是否光滑,有無(wú)明顯裂縫。焊點(diǎn)形狀不規(guī)則,暗示焊接時(shí)溫度、時(shí)間控制不佳。隨后,利用 X 射線探傷技術(shù),檢測(cè)焊點(diǎn)內(nèi)部狀況,查看是否存在氣孔、夾渣等內(nèi)部缺陷,這些缺陷會(huì)降低焊點(diǎn)強(qiáng)度,在后續(xù)使用中易引發(fā)焊點(diǎn)開(kāi)裂。接著,通過(guò)金相分析,在顯微鏡下觀察焊接接頭微觀組織,判斷焊接熱影響區(qū)大小,熱影響區(qū)過(guò)大可能導(dǎo)致材料性能劣化,增加焊點(diǎn)開(kāi)裂風(fēng)險(xiǎn)。此外,進(jìn)行電氣性能測(cè)試,測(cè)量焊接部位電阻,若電阻過(guò)大,表明電氣連接不可靠,可能是焊點(diǎn)開(kāi)裂或接觸不良所致。廣州聯(lián)華檢測(cè)根據(jù)專(zhuān)業(yè)分...
電子元器件焊點(diǎn)開(kāi)裂會(huì)導(dǎo)致電子產(chǎn)品電氣連接不穩(wěn)定。廣州聯(lián)華檢測(cè)處理電子元器件焊點(diǎn)開(kāi)裂失效分析時(shí),首先對(duì)焊點(diǎn)進(jìn)行外觀檢查,觀察焊點(diǎn)形狀是否規(guī)則,表面是否光滑,有無(wú)明顯裂縫。焊點(diǎn)形狀不規(guī)則,暗示焊接時(shí)溫度、時(shí)間控制不佳。隨后,利用 X 射線探傷技術(shù),檢測(cè)焊點(diǎn)內(nèi)部狀況,查看是否存在氣孔、夾渣等內(nèi)部缺陷,這些缺陷會(huì)降低焊點(diǎn)強(qiáng)度,在后續(xù)使用中易引發(fā)焊點(diǎn)開(kāi)裂。接著,通過(guò)金相分析,在顯微鏡下觀察焊接接頭微觀組織,判斷焊接熱影響區(qū)大小,熱影響區(qū)過(guò)大可能導(dǎo)致材料性能劣化,增加焊點(diǎn)開(kāi)裂風(fēng)險(xiǎn)。此外,進(jìn)行電氣性能測(cè)試,測(cè)量焊接部位電阻,若電阻過(guò)大,表明電氣連接不可靠,可能是焊點(diǎn)開(kāi)裂或接觸不良所致。廣州聯(lián)華檢測(cè)根據(jù)專(zhuān)業(yè)分...
針對(duì)金屬材料斷裂情況,聯(lián)華檢測(cè)團(tuán)隊(duì)首先收集斷裂的金屬材料殘骸,仔細(xì)觀察斷口宏觀特征。若斷口呈現(xiàn)粗糙、參差不齊狀態(tài),多為韌性斷裂,可能是材料受力超過(guò)其屈服強(qiáng)度所致;若斷口較為平齊、光亮,大概率是脆性斷裂,或許是材料本身存在缺陷,如內(nèi)部夾雜、微裂紋等。接著進(jìn)行微觀分析,借助掃描電子顯微鏡,深入觀察斷口微觀形貌,確定斷裂機(jī)制,是疲勞斷裂、應(yīng)力腐蝕斷裂,還是其他原因。此外,對(duì)金屬材料進(jìn)行化學(xué)成分分析和力學(xué)性能測(cè)試,判斷材料成分是否符合標(biāo)準(zhǔn),以及實(shí)際力學(xué)性能與設(shè)計(jì)要求的差距,專(zhuān)業(yè)剖析金屬材料斷裂原因 。工業(yè)機(jī)器人失效分析,保障生產(chǎn)持續(xù)進(jìn)行。蘇州新能源FPC組件失效分析服務(wù)電子元器件焊點(diǎn)開(kāi)裂會(huì)導(dǎo)致電子產(chǎn)品...
聯(lián)華檢測(cè)技術(shù)服務(wù)(廣州)有限公司的線路板失效分析服務(wù)能夠快速診斷問(wèn)題。技術(shù)人員會(huì)詳細(xì)了解線路板的使用環(huán)境、工作條件等信息。假設(shè)線路板在高溫環(huán)境下工作,會(huì)重點(diǎn)檢查其散熱性能,包括散熱片的設(shè)計(jì)是否合理、線路板的材質(zhì)是否具備良好的導(dǎo)熱性以及耐高溫材料的選擇是否恰當(dāng)。若在潮濕環(huán)境下使用,則關(guān)注防潮措施,例如是否有防潮涂層、線路板的密封情況等。通過(guò)對(duì)線路板進(jìn)行電氣性能測(cè)試,檢測(cè)線路的導(dǎo)通性,排查是否存在短路、斷路問(wèn)題;檢查信號(hào)傳輸情況,判斷是否有信號(hào)衰減、干擾等現(xiàn)象。同時(shí),結(jié)合外觀檢查,查看線路板上的電子元器件是否有明顯損壞,如電容鼓包、電阻燒毀、芯片引腳斷裂等,從而確定線路板失效原因,為客戶提供解決方...
線路板短路會(huì)導(dǎo)致電子設(shè)備故障頻發(fā)。聯(lián)華檢測(cè)處理線路板短路失效分析時(shí),第一步是仔細(xì)的外觀檢查,借助高分辨率顯微鏡,***查看線路板表面,不放過(guò)任何一處細(xì)微痕跡,查看是否有燒痕、異物、線路破損等情況。一旦發(fā)現(xiàn)燒痕,很可能是短路時(shí)大電流產(chǎn)生高溫所致。外觀檢查后,運(yùn)用專(zhuān)業(yè)電路測(cè)試設(shè)備,對(duì)線路板電路進(jìn)行逐點(diǎn)檢測(cè),以此精細(xì)定位短路位置。若外觀無(wú)明顯異常,會(huì)采用絕緣電阻測(cè)試儀,測(cè)量線路間絕緣電阻,判斷是否因絕緣性能下降引發(fā)短路。對(duì)于結(jié)構(gòu)復(fù)雜的多層線路板,還會(huì)運(yùn)用 X 射線斷層掃描技術(shù),深入觀察內(nèi)部線路連接狀況,排查內(nèi)部線路短路可能性。同時(shí),聯(lián)華檢測(cè)會(huì)詳細(xì)了解線路板使用環(huán)境,如是否處于潮濕、高溫、強(qiáng)電磁干擾環(huán)...
針對(duì)金屬材料斷裂情況,聯(lián)華檢測(cè)團(tuán)隊(duì)首先收集斷裂的金屬材料殘骸,仔細(xì)觀察斷口宏觀特征。若斷口呈現(xiàn)粗糙、參差不齊狀態(tài),多為韌性斷裂,可能是材料受力超過(guò)其屈服強(qiáng)度所致;若斷口較為平齊、光亮,大概率是脆性斷裂,或許是材料本身存在缺陷,如內(nèi)部夾雜、微裂紋等。接著進(jìn)行微觀分析,借助掃描電子顯微鏡,深入觀察斷口微觀形貌,確定斷裂機(jī)制,是疲勞斷裂、應(yīng)力腐蝕斷裂,還是其他原因。此外,對(duì)金屬材料進(jìn)行化學(xué)成分分析和力學(xué)性能測(cè)試,判斷材料成分是否符合標(biāo)準(zhǔn),以及實(shí)際力學(xué)性能與設(shè)計(jì)要求的差距,專(zhuān)業(yè)剖析金屬材料斷裂原因 。制造企業(yè)不可少!失效分析助力提升產(chǎn)品質(zhì)量與可靠性。松江區(qū)芯片失效分析有哪些線路板短路是致使電子設(shè)備頻繁...
線路板短路是致使電子設(shè)備頻繁出現(xiàn)故障的常見(jiàn)原因。聯(lián)華檢測(cè)在處理線路板短路失效分析時(shí),第一步是進(jìn)行細(xì)致的外觀檢查。借助高分辨率顯微鏡,對(duì)線路板表面進(jìn)行專(zhuān)業(yè)查看,不放過(guò)任何細(xì)微痕跡,仔細(xì)檢查是否有燒痕、異物、線路破損等情況。一旦發(fā)現(xiàn)燒痕,大概率是短路時(shí)大電流產(chǎn)生高溫造成的。外觀檢查完成后,會(huì)運(yùn)用專(zhuān)業(yè)的電路測(cè)試設(shè)備,對(duì)線路板的電路進(jìn)行逐點(diǎn)檢測(cè),以此來(lái)精細(xì)確定短路的位置。要是外觀沒(méi)有明顯異常,就會(huì)采用絕緣電阻測(cè)試儀,測(cè)量線路之間的絕緣電阻,判斷是不是因?yàn)榻^緣性能下降而引發(fā)短路。對(duì)于結(jié)構(gòu)復(fù)雜的多層線路板,聯(lián)華檢測(cè)還會(huì)運(yùn)用 X 射線斷層掃描技術(shù),深入觀察內(nèi)部線路的連接狀況,排查內(nèi)部線路短路的可能性。與此同...
針對(duì)金屬材料斷裂情況,聯(lián)華檢測(cè)團(tuán)隊(duì)首先收集斷裂的金屬材料殘骸,仔細(xì)觀察斷口宏觀特征。若斷口呈現(xiàn)粗糙、參差不齊狀態(tài),多為韌性斷裂,可能是材料受力超過(guò)其屈服強(qiáng)度所致;若斷口較為平齊、光亮,大概率是脆性斷裂,或許是材料本身存在缺陷,如內(nèi)部夾雜、微裂紋等。接著進(jìn)行微觀分析,借助掃描電子顯微鏡,深入觀察斷口微觀形貌,確定斷裂機(jī)制,是疲勞斷裂、應(yīng)力腐蝕斷裂,還是其他原因。此外,對(duì)金屬材料進(jìn)行化學(xué)成分分析和力學(xué)性能測(cè)試,判斷材料成分是否符合標(biāo)準(zhǔn),以及實(shí)際力學(xué)性能與設(shè)計(jì)要求的差距,專(zhuān)業(yè)剖析金屬材料斷裂原因 。電子元器件失效分析,為電路穩(wěn)定運(yùn)行提供保障。南通電子電器失效分析技術(shù)服務(wù)汽車(chē)零部件長(zhǎng)期在復(fù)雜工況下運(yùn)行...
線路板短路是電子設(shè)備故障的常見(jiàn)原因。廣州聯(lián)華檢測(cè)處理線路板短路失效分析時(shí),首先進(jìn)行細(xì)致的外觀檢查。借助高分辨率顯微鏡,專(zhuān)業(yè)查看線路板表面,不放過(guò)任何細(xì)微痕跡,檢查是否有燒痕、異物、線路破損等情況。燒痕可能由短路時(shí)大電流產(chǎn)生的高溫造成。外觀檢查后,運(yùn)用專(zhuān)業(yè)電路測(cè)試設(shè)備,對(duì)線路板電路進(jìn)行逐點(diǎn)檢測(cè),精細(xì)定位短路位置。若外觀無(wú)明顯異常,則采用絕緣電阻測(cè)試儀,測(cè)量線路間絕緣電阻,判斷是否因絕緣性能下降引發(fā)短路。對(duì)于結(jié)構(gòu)復(fù)雜的多層線路板,運(yùn)用 X 射線斷層掃描技術(shù),深入觀察內(nèi)部線路連接狀況,排查內(nèi)部線路短路可能性。同時(shí),詳細(xì)了解線路板使用環(huán)境,如是否處于潮濕、高溫、強(qiáng)電磁干擾環(huán)境。綜合多方面檢測(cè)結(jié)果,準(zhǔn)確...
電子元器件焊點(diǎn)開(kāi)裂會(huì)使電子產(chǎn)品的電氣連接變得不穩(wěn)定。聯(lián)華檢測(cè)在處理電子元器件焊點(diǎn)開(kāi)裂失效分析時(shí),首先對(duì)焊點(diǎn)進(jìn)行外觀檢查,觀察焊點(diǎn)形狀是否規(guī)則,表面是否光滑,有無(wú)明顯裂縫。焊點(diǎn)形狀不規(guī)則,往往暗示焊接時(shí)溫度、時(shí)間控制得不好。隨后,利用 X 射線探傷技術(shù),檢測(cè)焊點(diǎn)內(nèi)部狀況,查看是否存在氣孔、夾渣等內(nèi)部缺陷,這些缺陷會(huì)降低焊點(diǎn)強(qiáng)度,在后續(xù)使用過(guò)程中容易引發(fā)焊點(diǎn)開(kāi)裂。接著,通過(guò)金相分析,在顯微鏡下觀察焊接接頭的微觀組織,判斷焊接熱影響區(qū)的大小,熱影響區(qū)過(guò)大可能導(dǎo)致材料性能劣化,增加焊點(diǎn)開(kāi)裂的風(fēng)險(xiǎn)。此外,還會(huì)進(jìn)行電氣性能測(cè)試,測(cè)量焊接部位的電阻,要是電阻過(guò)大,表明電氣連接不可靠,可能是焊點(diǎn)開(kāi)裂或接觸不良...
電子元器件焊點(diǎn)開(kāi)裂會(huì)導(dǎo)致電子產(chǎn)品的電氣連接不穩(wěn)定。廣州聯(lián)華檢測(cè)在處理電子元器件焊點(diǎn)開(kāi)裂失效分析時(shí),首先對(duì)焊點(diǎn)進(jìn)行外觀檢查,觀察焊點(diǎn)形狀是否規(guī)則,表面是否光滑,有無(wú)明顯裂縫。焊點(diǎn)形狀不規(guī)則,往往表明焊接時(shí)溫度、時(shí)間控制欠佳。隨后,利用 X 射線探傷技術(shù),檢測(cè)焊點(diǎn)內(nèi)部狀況,查看是否存在氣孔、夾渣等內(nèi)部缺陷,這些缺陷會(huì)降低焊點(diǎn)強(qiáng)度,在后續(xù)使用過(guò)程中容易引發(fā)焊點(diǎn)開(kāi)裂。接著,通過(guò)金相分析,在顯微鏡下觀察焊接接頭的微觀組織,判斷焊接熱影響區(qū)的大小,熱影響區(qū)過(guò)大可能導(dǎo)致材料性能劣化,增加焊點(diǎn)開(kāi)裂的風(fēng)險(xiǎn)。此外,還會(huì)進(jìn)行電氣性能測(cè)試,測(cè)量焊接部位的電阻,若電阻過(guò)大,表明電氣連接不可靠,可能是焊點(diǎn)開(kāi)裂或接觸不良所...
金屬材料在眾多行業(yè)廣泛應(yīng)用,其腐蝕失效問(wèn)題不容小覷。廣州聯(lián)華檢測(cè)開(kāi)展金屬材料腐蝕失效分析時(shí),首先進(jìn)行宏觀檢查。技術(shù)人員仔細(xì)觀察金屬材料外觀,包括腐蝕區(qū)域的位置、范圍,以及腐蝕產(chǎn)物的顏色、形態(tài)等特征。例如,沿海地區(qū)使用的金屬設(shè)備出現(xiàn)大面積銹斑,初步判斷可能受鹽霧腐蝕。宏觀檢查后進(jìn)行微觀分析,運(yùn)用金相顯微鏡觀察金屬材料微觀組織結(jié)構(gòu),查看晶粒是否均勻,有無(wú)異常組織形態(tài),某些異常組織可能加速腐蝕進(jìn)程。同時(shí),利用掃描電子顯微鏡進(jìn)一步觀察材料表面和內(nèi)部的腐蝕缺陷,如腐蝕坑的深度、大小,內(nèi)部是否存在裂紋等。此外,依據(jù)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)(如 GB/T 20123 - 2006 等)進(jìn)行化學(xué)成分分析,檢測(cè)金屬材料成分,判...
在電子產(chǎn)品領(lǐng)域,失效問(wèn)題種類(lèi)繁多且影響重大。聯(lián)華檢測(cè)針對(duì)電子產(chǎn)品失效分析,構(gòu)建了一套完整且專(zhuān)業(yè)的流程。從外觀檢查入手,利用高精度光學(xué)顯微鏡排查是否存在物理?yè)p傷、焊點(diǎn)缺陷等明顯問(wèn)題。對(duì)于內(nèi)部故障,采用微切片技術(shù),將電子元器件或線路板進(jìn)行精細(xì)切割,觀察內(nèi)部結(jié)構(gòu)的完整性。在電氣性能測(cè)試方面,通過(guò)專(zhuān)業(yè)設(shè)備模擬電子產(chǎn)品的實(shí)際工作條件,檢測(cè)其電氣參數(shù)的穩(wěn)定性,如電壓、電流、電阻等。一旦發(fā)現(xiàn)異常,結(jié)合材料分析與結(jié)構(gòu)分析,判斷是由于電子元件老化、電路設(shè)計(jì)缺陷,還是制造工藝問(wèn)題導(dǎo)致的失效,為電子產(chǎn)品的質(zhì)量改進(jìn)和故障修復(fù)提供有力依據(jù)。運(yùn)用失效分析,優(yōu)化產(chǎn)品的電磁兼容性。常州線路板失效分析服務(wù)汽車(chē)零部件長(zhǎng)期在復(fù)雜工...
線路板短路是致使電子設(shè)備頻繁出現(xiàn)故障的常見(jiàn)原因。廣州聯(lián)華檢測(cè)在處理線路板短路失效分析時(shí),第一步是進(jìn)行細(xì)致的外觀檢查。借助高分辨率顯微鏡,對(duì)線路板表面進(jìn)行專(zhuān)業(yè)查看,不放過(guò)任何細(xì)微痕跡,仔細(xì)檢查是否有燒痕、異物、線路破損等情況。一旦發(fā)現(xiàn)燒痕,大概率是短路時(shí)大電流產(chǎn)生高溫造成的。外觀檢查完成后,會(huì)運(yùn)用專(zhuān)業(yè)的電路測(cè)試設(shè)備,對(duì)線路板的電路進(jìn)行逐點(diǎn)檢測(cè),以此來(lái)精細(xì)確定短路的位置。要是外觀沒(méi)有明顯異常,就會(huì)采用絕緣電阻測(cè)試儀,測(cè)量線路之間的絕緣電阻,判斷是不是因?yàn)榻^緣性能下降而引發(fā)短路。對(duì)于結(jié)構(gòu)復(fù)雜的多層線路板,廣州聯(lián)華檢測(cè)還會(huì)運(yùn)用 X 射線斷層掃描技術(shù),深入觀察內(nèi)部線路的連接狀況,排查內(nèi)部線路短路的可能性...
芯片在電子設(shè)備中至關(guān)重要,其封裝出現(xiàn)問(wèn)題會(huì)嚴(yán)重影響性能。聯(lián)華檢測(cè)面對(duì)芯片封裝失效分析任務(wù)時(shí),會(huì)先利用 X 射線檢測(cè)技術(shù),這一技術(shù)可穿透芯片封裝外殼,清晰呈現(xiàn)內(nèi)部結(jié)構(gòu)。通過(guò) X 射線成像,能精細(xì)發(fā)現(xiàn)焊點(diǎn)異常,如虛焊、冷焊現(xiàn)象,虛焊會(huì)使芯片引腳與電路板間連接不穩(wěn),信號(hào)傳輸易中斷;也能排查出線路布局問(wèn)題,像多層線路板構(gòu)成的芯片封裝,X 射線可穿透多層結(jié)構(gòu),展示線路是否存在短路、斷路,線路位置、長(zhǎng)度及寬度是否契合設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)。另外,X 射線還能檢測(cè)封裝材料內(nèi)部狀況,查看有無(wú)氣泡、裂縫、分層等缺陷,這些缺陷會(huì)削弱芯片密封性能與機(jī)械強(qiáng)度,讓芯片易受外界環(huán)境干擾而失效。在檢測(cè)過(guò)程中,聯(lián)華檢測(cè)技術(shù)人員會(huì)詳細(xì)記錄 ...
工業(yè)機(jī)器人關(guān)節(jié)部件失效會(huì)使機(jī)器人運(yùn)動(dòng)精度下降,甚至無(wú)法正常工作。廣州聯(lián)華檢測(cè)對(duì)工業(yè)機(jī)器人關(guān)節(jié)部件失效進(jìn)行分析時(shí),先對(duì)失效關(guān)節(jié)部件進(jìn)行外觀檢查,查看是否有磨損、變形、斷裂等明顯損壞跡象。關(guān)節(jié)軸承磨損導(dǎo)致關(guān)節(jié)運(yùn)動(dòng)卡頓,連桿變形影響運(yùn)動(dòng)軌跡,部件斷裂使關(guān)節(jié)失去運(yùn)動(dòng)功能。通過(guò)測(cè)量關(guān)節(jié)部件尺寸,與原始設(shè)計(jì)尺寸對(duì)比,確定磨損或變形程度。運(yùn)用硬度測(cè)試設(shè)備,檢測(cè)關(guān)節(jié)部件材料硬度,判斷材料是否因熱處理不當(dāng)?shù)仍驅(qū)е掠捕炔环弦蟆?duì)關(guān)節(jié)部件材料進(jìn)行成分分析,用光譜分析儀確定化學(xué)成分,查看是否存在材料質(zhì)量問(wèn)題。同時(shí),分析工業(yè)機(jī)器人工作負(fù)載、運(yùn)行頻率、潤(rùn)滑條件等因素。長(zhǎng)期高負(fù)載運(yùn)行、潤(rùn)滑不良都可能加速關(guān)節(jié)部件磨損和...
電子元器件焊點(diǎn)開(kāi)裂會(huì)使電子產(chǎn)品電氣連接不穩(wěn)定。聯(lián)華檢測(cè)在處理電子元器件焊點(diǎn)開(kāi)裂失效分析時(shí),首先對(duì)焊點(diǎn)進(jìn)行外觀檢查,觀察焊點(diǎn)形狀是否規(guī)則,表面是否光滑,有無(wú)明顯裂縫。不規(guī)則焊點(diǎn)形狀暗示焊接時(shí)溫度、時(shí)間控制不佳。隨后,利用 X 射線探傷技術(shù),檢測(cè)焊點(diǎn)內(nèi)部狀況,查看是否存在氣孔、夾渣等內(nèi)部缺陷,這些缺陷會(huì)降低焊點(diǎn)強(qiáng)度,在后續(xù)使用中易引發(fā)焊點(diǎn)開(kāi)裂。接著,通過(guò)金相分析,在顯微鏡下觀察焊接接頭微觀組織,判斷焊接熱影響區(qū)大小,熱影響區(qū)過(guò)大可能導(dǎo)致材料性能劣化,增加焊點(diǎn)開(kāi)裂風(fēng)險(xiǎn)。此外,還會(huì)進(jìn)行電氣性能測(cè)試,測(cè)量焊接部位電阻,若電阻過(guò)大,表明電氣連接不可靠,可能是焊點(diǎn)開(kāi)裂或接觸不良所致。聯(lián)華檢測(cè)根據(jù)***分析結(jié)...
電子元器件焊點(diǎn)開(kāi)裂會(huì)導(dǎo)致電子產(chǎn)品的電氣連接不穩(wěn)定。廣州聯(lián)華檢測(cè)在處理電子元器件焊點(diǎn)開(kāi)裂失效分析時(shí),首先對(duì)焊點(diǎn)進(jìn)行外觀檢查,觀察焊點(diǎn)形狀是否規(guī)則,表面是否光滑,有無(wú)明顯裂縫。焊點(diǎn)形狀不規(guī)則,往往表明焊接時(shí)溫度、時(shí)間控制欠佳。隨后,利用 X 射線探傷技術(shù),檢測(cè)焊點(diǎn)內(nèi)部狀況,查看是否存在氣孔、夾渣等內(nèi)部缺陷,這些缺陷會(huì)降低焊點(diǎn)強(qiáng)度,在后續(xù)使用過(guò)程中容易引發(fā)焊點(diǎn)開(kāi)裂。接著,通過(guò)金相分析,在顯微鏡下觀察焊接接頭的微觀組織,判斷焊接熱影響區(qū)的大小,熱影響區(qū)過(guò)大可能導(dǎo)致材料性能劣化,增加焊點(diǎn)開(kāi)裂的風(fēng)險(xiǎn)。此外,還會(huì)進(jìn)行電氣性能測(cè)試,測(cè)量焊接部位的電阻,若電阻過(guò)大,表明電氣連接不可靠,可能是焊點(diǎn)開(kāi)裂或接觸不良所...