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在物理層方面，PCIe總線采用多對(duì)高速串行的差分信號(hào)進(jìn)行雙向高速傳輸，每對(duì)差分 線上的信號(hào)速率可以是第1代的2 . 5Gbps、第2代的5Gbps、第3代的8Gbps、第4代的 16Gbps、第5代的32Gbps,其典型連接方式有金手指連接、背板連接、芯片直接互連以及電 纜連接等。根據(jù)不同的總線帶寬需求，其常用的連接位寬可以選擇x1、x4、x8、x16等。如 果采用×16連接以及第5代的32Gbps速率，理論上可以支持約128GBps的雙向總線帶寬。 另外，2019年P(guān)CI-SIG宣布采用PAM-4技術(shù)，單Lane數(shù)據(jù)速率達(dá)到64Gbps的第6代標(biāo) 準(zhǔn)規(guī)范也在討論過程中。列出了PCI...

為了克服大的通道損耗，PCle5.0接收端的均衡能力也會(huì)更強(qiáng)一些。比如接收端的 CTLE均衡器采用了2階的CTLE均衡,其損耗/增益曲線有4個(gè)極點(diǎn)和2個(gè)零點(diǎn)，其直流增益可以在-5～ - 15dB之間以1dB的分辨率進(jìn)行調(diào)整，以精確補(bǔ)償通道損耗的 影響。同時(shí)，為了更好地補(bǔ)償信號(hào)反射、串?dāng)_的影響，其接收端的DFE均衡器也使用了更復(fù) 雜的3-Tap均衡器。對(duì)于發(fā)射端來說，PCle5.0相對(duì)于PCIe4.0和PCIe3.0來說變化不大， 仍然是3階的FIR預(yù)加重以及11種預(yù)設(shè)好的Preset組合。PCI-E PCI-E 2.0,PCI-E 3.0插口區(qū)別是什么？海南PCI-E測試熱線需要注意的是，每...

(9)PCle4.0上電階段的鏈路協(xié)商過程會(huì)先協(xié)商到8Gbps,成功后再協(xié)商到16Gbps;(10)PCIe4.0中除了支持傳統(tǒng)的收發(fā)端共參考時(shí)鐘模式，還提供了收發(fā)端采用參考時(shí)鐘模式的支持。通過各種信號(hào)處理技術(shù)的結(jié)合，PCIe組織總算實(shí)現(xiàn)了在兼容現(xiàn)有的FR-4板材和接插 件的基礎(chǔ)上，每一代更新都提供比前代高一倍的有效數(shù)據(jù)傳輸速率。但同時(shí)收/發(fā)芯片會(huì)變 得更加復(fù)雜，系統(tǒng)設(shè)計(jì)的難度也更大。如何保證PCIe總線工作的可靠性和很好的兼容性， 就成為設(shè)計(jì)和測試人員面臨的嚴(yán)峻挑戰(zhàn)。如果被測件是標(biāo)準(zhǔn)的PCI-E插槽接口，如何進(jìn)行PCI-E的協(xié)議分析？通信PCI-E測試USB測試關(guān)于各測試項(xiàng)目的具體描述如...

由于每對(duì)數(shù)據(jù)線和參考時(shí)鐘都是差分的，所以主 板的測試需要同時(shí)占用4個(gè)示波器通道，也就是在進(jìn)行PCIe4.0的主板測試時(shí)示波器能夠 4個(gè)通道同時(shí)工作且達(dá)到25GHz帶寬。而對(duì)于插卡的測試來說，只需要把差分的數(shù)據(jù)通道 引入示波器進(jìn)行測試就可以了，示波器能夠2個(gè)通道同時(shí)工作并達(dá)到25GHz帶寬即可。 12展示了典型PCIe4.0的發(fā)射機(jī)信號(hào)質(zhì)量測試環(huán)境。無論是對(duì)于發(fā)射機(jī)測試，還是對(duì)于后面要介紹到的接收機(jī)容限測試來說，在PCIe4.0 的TX端和RX端的測試中，都需要用到ISI板。ISI板上的Trace線有幾十對(duì)，每相鄰線對(duì) 間的插損相差0.5dB左右。由于測試中用戶使用的電纜、連接器的插損都可...

對(duì)于PCIe來說，由于長鏈路時(shí)的損耗很大，因此接收端的裕量很小。為了掌握實(shí)際工 作環(huán)境下芯片內(nèi)部實(shí)際接收到的信號(hào)質(zhì)量，在PCIe3.0時(shí)代，有些芯片廠商會(huì)用自己內(nèi)置 的工具來掃描接收到的信號(hào)質(zhì)量，但這個(gè)功能不是強(qiáng)制的。到了PCIe4.0標(biāo)準(zhǔn)中，規(guī)范把 接收端的信號(hào)質(zhì)量掃描功能作為強(qiáng)制要求，正式名稱是Lane Margin(鏈路裕量)功能。 簡單的Lane Margin功能的實(shí)現(xiàn)是在芯片內(nèi)部進(jìn)行二維的誤碼率掃描，即通過調(diào)整水平方 向的采樣點(diǎn)時(shí)刻以及垂直方向的信號(hào)判決閾值，PCI-E硬件測試方法有那些辦法；測試服務(wù)PCI-E測試檢修PCIe4.0的發(fā)射機(jī)質(zhì)量測試發(fā)射機(jī)質(zhì)量是保證鏈路能夠可靠工作的先...

項(xiàng)目2.12SystemReceiverLinkEqualizationTest:驗(yàn)證主板在壓力信號(hào)下的接收機(jī)性能及誤碼率，可以和對(duì)端進(jìn)行鏈路協(xié)商并相應(yīng)調(diào)整對(duì)端的預(yù)加重，針對(duì)8Gbps和16Gbps速率?！ろ?xiàng)目2.13Add-inCardPLLBandwidth:驗(yàn)證插卡的PLL環(huán)路帶寬，針對(duì)時(shí)鐘和所有支持的數(shù)據(jù)速率?！ろ?xiàng)目2.14Add-inCardPCBImpedance(informative):驗(yàn)證插卡上走線的PCB阻抗，不是強(qiáng)制測試?！ろ?xiàng)目2.15SystemBoardPCBImpedance(informative):驗(yàn)證主板上走線的PCB阻抗，不是強(qiáng)制測試。接下來，我們重點(diǎn)從發(fā)射...

當(dāng)被測件進(jìn)入環(huán)回模式并且誤碼儀發(fā)出壓力眼圖的信號(hào)后，被測件應(yīng)該會(huì)把其從RX 端收到的數(shù)據(jù)再通過TX端發(fā)送出去送回誤碼儀，誤碼儀通過比較誤碼來判斷數(shù)據(jù)是否被 正確接收，測試通過的標(biāo)準(zhǔn)是要求誤碼率小于1.0×10- 12。 19是用高性能誤碼儀進(jìn) 行PCIe4.0的插卡接收的實(shí)際環(huán)境。在這款誤碼儀中內(nèi)置了時(shí)鐘恢復(fù)電路、預(yù)加重模塊、 參考時(shí)鐘倍頻、信號(hào)均衡電路等，非常適合速率高、要求復(fù)雜的場合。在接收端容限測試中， 可調(diào)ISI板上Trace線的選擇也非常重要。如果選擇的鏈路不合適，可能需要非常長的時(shí) 間進(jìn)行Stress Eye的計(jì)算和鏈路調(diào)整，甚至無法完成校準(zhǔn)和測試。 一般建議事先用VNA ...

P5 、8Gbps P6 、8Gbps P7 、8Gbps P8 、8GbpsP9 、8Gbps P10 、16GbpsP0 、16GbpsPl 、16Gbps P2 、16Gbps P3 、16Gbps P4 、16Gbps P5 、16Gbps P6 、16GbpsP7 、16Gbps P8 、16Gbps P9、 16Gbps P10的一致性測試碼型。需要注意的一點(diǎn)是，由于在8Gbps和16Gbps下都有11種 Preset值，測試過程中應(yīng)明確當(dāng)前測試的是哪一個(gè)Preset值(比如常用的有Preset7、 Preset8 、Presetl 、...

是用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀進(jìn)行鏈路標(biāo)定的典型連接，具體的標(biāo)定步驟非常多，在PCIe4.0 Phy Test Specification文檔里有詳細(xì)描述，這里不做展開。 在硬件連接完成、測試碼型切換正確后，就可以對(duì)信號(hào)進(jìn)行捕獲和信號(hào)質(zhì)量分析。正式 的信號(hào)質(zhì)量分析之前還需要注意的是：為了把傳輸通道對(duì)信號(hào)的惡化以及均衡器對(duì)信號(hào)的 改善效果都考慮進(jìn)去，PCIe3.0及之后標(biāo)準(zhǔn)的測試中對(duì)其發(fā)送端眼圖、抖動(dòng)等測試的參考點(diǎn) 從發(fā)送端轉(zhuǎn)移到了接收端。也就是說，測試中需要把傳輸通道對(duì)信號(hào)的惡化的影響以及均 衡器對(duì)信號(hào)的改善影響都考慮進(jìn)去。 如果被測件是標(biāo)準(zhǔn)的PCI-E插槽接口，如何進(jìn)行PCI-E的協(xié)議分析？測...

PCle5.0的鏈路模型及鏈路損耗預(yù)算在實(shí)際的測試中，為了把被測主板或插卡的PCIe信號(hào)從金手指連接器引出，PCI-SIG組織也設(shè)計(jì)了專門的PCIe5.0測試夾具。PCle5.0的這套夾具與PCle4.0的類似，也是包含了CLB板、CBB板以及專門模擬和調(diào)整鏈路損耗的ISI板。主板的發(fā)送信號(hào)質(zhì)量測試需要用到對(duì)應(yīng)位寬的CLB板；插卡的發(fā)送信號(hào)質(zhì)量測試需要用到CBB板；而在接收容限測試中，由于要進(jìn)行全鏈路的校準(zhǔn)，整套夾具都可能會(huì)使用到。21是PCIe5.0的測試夾具組成。高速串行技術(shù)(二)之(PCIe中的基本概念)；智能化多端口矩陣測試PCI-E測試一致性測試當(dāng)鏈路速率不斷提升時(shí)，給接收端留的信號(hào)...

相應(yīng)地，在CC模式下參考時(shí)鐘的 抖動(dòng)測試中，也會(huì)要求測試軟件能夠很好地模擬發(fā)送端和接收端抖動(dòng)傳遞函數(shù)的影響。而 在IR模式下，主板和插卡可以采用不同的參考時(shí)鐘，可以為一些特殊的不太方便進(jìn)行參考 時(shí)鐘傳遞的應(yīng)用場景(比如通過Cable連接時(shí))提供便利，但由于收發(fā)端參考時(shí)鐘不同源，所 以對(duì)于收發(fā)端的設(shè)計(jì)難度要大一些(比如Buffer深度以及時(shí)鐘頻差調(diào)整機(jī)制)。IR模式下 用戶可以根據(jù)需要在參考時(shí)鐘以及PLL的抖動(dòng)之間做一些折中和平衡，保證*終的發(fā)射機(jī) 抖動(dòng)指標(biāo)即可。圖4.9是PCIe4.0規(guī)范參考時(shí)鐘時(shí)的時(shí)鐘架構(gòu)，以及不同速率下對(duì)于 芯片Refclk抖動(dòng)的要求。PCI-E X16,PCI-E 2....

PCIe背景概述PCIExpress(PeripheralComponentInterconnectExpress,PCle)總線是PCI總線的串行版本，廣泛應(yīng)用于顯卡、GPU、SSD卡、以太網(wǎng)卡、加速卡等與CPU的互聯(lián)。PCle的標(biāo)準(zhǔn)由PCI-SIG(PCISpecialInterestGroup)組織制定和維護(hù)，目前其董事會(huì)主要成員有Intel、AMD、nVidia、DellEMC、Keysight、Synopsys、ARM、Qualcomm、VTM等公司，全球會(huì)員單位超過700家。PCI-SIG發(fā)布的規(guī)范主要有Base規(guī)范(適用于芯片和協(xié)議)、CEM規(guī)范(適用于板卡機(jī)械和電氣設(shè)計(jì))、測試...

CTLE均衡器可以比較好地補(bǔ)償傳輸通道的線性損耗，但是對(duì)于一些非線性因素(比如 由于阻抗不匹配造成的信號(hào)反射)的補(bǔ)償還需要借助于DFE的均衡器，而且隨著信號(hào)速率的提升，接收端的眼圖裕量越來越小，采用的DFE技術(shù)也相應(yīng)要更加復(fù)雜。在PCle3.0的 規(guī)范中，針對(duì)8Gbps的信號(hào)，定義了1階的DFE配合CTLE完成信號(hào)的均衡；而在PCle4.0 的規(guī)范中，針對(duì)16Gbps的信號(hào)，定義了更復(fù)雜的2階DFE配合CTLE進(jìn)行信號(hào)的均衡。 圖 4 .5 分別是規(guī)范中針對(duì)8Gbps和16Gbps信號(hào)接收端定義的DFE均衡器(參考資料： PCI Express@ Base Specificatio...

雖然在編碼方式和芯片內(nèi)部做了很多工作，但是傳輸鏈路的損耗仍然是巨大的挑戰(zhàn)，特 別是當(dāng)采用比較便宜的PCB板材時(shí)，就不得不適當(dāng)減少傳輸距離和鏈路上的連接器數(shù)量。 在PCIe3.0的8Gbps速率下，還有可能用比較便宜的FR4板材在大約20英寸的傳輸距離 加2個(gè)連接器實(shí)現(xiàn)可靠信號(hào)傳輸。在PCle4.0的16Gbps速率下，整個(gè)16Gbps鏈路的損耗 需要控制在-28dB @8GHz以內(nèi)，其中主板上芯片封裝、PCB/過孔走線、連接器的損耗總 預(yù)算為-20dB@8GHz,而插卡上芯片封裝、PCB/過孔走線的損耗總預(yù)算為-8dB@8GHz。 整個(gè)鏈路的長度需要控制在12英寸以內(nèi)，并且鏈路上只能...

需要注意的是，每一代CBB和CLB的設(shè)計(jì)都不太一樣，特別是CBB的 變化比較大，所以測試中需要加以注意。圖4.10是支持PCIe4.0測試的夾具套件，主要包括1塊CBB4測試夾具、2塊分別支持x1/x16位寬和x4/x8位寬的CLB4測試夾具、1塊可 變ISI的測試夾具。在測試中，CBB4用于插卡的TX測試以及主板RX測試中的校準(zhǔn)； CLB4用于主板TX的測試以及插卡RX測試中的校準(zhǔn)；可變ISI的測試夾具是PCIe4 .0中 新增加的，無論是哪種測試，ISI板都是需要的。引入可變ISI測試夾具的原因是在PCIe4.0 的測試規(guī)范中，要求通過硬件通道的方式插入傳輸通道的影響，用于模擬實(shí)際主板或插...

PCIe4.0的發(fā)射機(jī)質(zhì)量測試發(fā)射機(jī)質(zhì)量是保證鏈路能夠可靠工作的先決條件，對(duì)于PCIe的發(fā)射機(jī)質(zhì)量測試來說，主要是用寬帶示波器捕獲其發(fā)出的信號(hào)并驗(yàn)證其信號(hào)質(zhì)量滿足規(guī)范要求。按照目前規(guī)范中的要求，PCIe3.0的一致性測試需要至少12.5GHz帶寬的示波器；而對(duì)于PCIe4.0來說，由于數(shù)據(jù)速率提高到了16Gbps,所以測試需要的示波器帶寬應(yīng)為25GHz或以上。如果要進(jìn)行主板的測試，測試規(guī)范推薦Dual-Port(雙口)的測試方式，即把被測的數(shù)據(jù)通道和參考時(shí)鐘同時(shí)接入示波器，這樣在進(jìn)行抖動(dòng)分析時(shí)就可以把一部分參考時(shí)鐘中的抖動(dòng)抵消掉，對(duì)于參考時(shí)鐘Jitter的要求可以放松一些。PCI-e硬件科普:...

這個(gè)軟件以圖形化的界面指導(dǎo)用戶完 成設(shè)置、連接和測試過程，除了可以自動(dòng)進(jìn)行示波器測量參數(shù)設(shè)置以及生成報(bào)告外，還提供 了Swing、Common Mode等更多測試項(xiàng)目，提高了測試的效率和覆蓋率。自動(dòng)測試軟件使 用的是與SigTest軟件完全一樣的分析算法，從而可以保證分析結(jié)果的一致性。圖4.15是 PCIe4.0自動(dòng)測試軟件的設(shè)置界面。 主板和插卡的測試項(xiàng)目針對(duì)的是系統(tǒng)設(shè)備廠商，需要使用PCI-SIG的測試夾具測 試，遵循的是CEM的規(guī)范。而對(duì)于設(shè)計(jì)PCIe芯片的廠商來說，其芯片本身的性能首先要 滿足的是Base的規(guī)范，并且需要自己設(shè)計(jì)針對(duì)芯片的測試板。16是一個(gè)典型的PCIe 芯片...

Cle4.0測試的CBB4和CLB4夾具無論是Preset還是信號(hào)質(zhì)量的測試，都需要被測件工作在特定速率的某些Preset下，要通過測試夾具控制被測件切換到需要的設(shè)置狀態(tài)。具體方法是：在被測件插入測試夾具并且上電以后，可以通過測試夾具上的切換開關(guān)控制DUT輸出不同速率的一致性測試碼型。在切換測試夾具上的Toggle開關(guān)時(shí)，正常的PCle4.0的被測件依次會(huì)輸出2.5Gbps、5Gbps-3dB、5Gbps-6dB、8GbpsP0、8GbpsP1、8GbpsP2、8GbpsP3、8GbpsP4、8Gbpspcie 有幾種類型,哪個(gè)速度快?四川DDR測試PCI-E測試 PCle5.0接收端CIL...

為了克服大的通道損耗，PCle5.0接收端的均衡能力也會(huì)更強(qiáng)一些。比如接收端的 CTLE均衡器采用了2階的CTLE均衡,其損耗/增益曲線有4個(gè)極點(diǎn)和2個(gè)零點(diǎn)，其直流增益可以在-5～ - 15dB之間以1dB的分辨率進(jìn)行調(diào)整，以精確補(bǔ)償通道損耗的 影響。同時(shí)，為了更好地補(bǔ)償信號(hào)反射、串?dāng)_的影響，其接收端的DFE均衡器也使用了更復(fù) 雜的3-Tap均衡器。對(duì)于發(fā)射端來說，PCle5.0相對(duì)于PCIe4.0和PCIe3.0來說變化不大， 仍然是3階的FIR預(yù)加重以及11種預(yù)設(shè)好的Preset組合。我的被測件不是標(biāo)準(zhǔn)的PCI-E插槽金手指的接口，怎么進(jìn)行PCI-E的測試？江西PCI-E測試聯(lián)系人在之前...

另外，在PCIe4 .0發(fā)送端的LinkEQ以及接收容限等相關(guān)項(xiàng)目測試中，都還需要用到能 與被測件進(jìn)行動(dòng)態(tài)鏈路協(xié)商的高性能誤碼儀。這些誤碼儀要能夠產(chǎn)生高質(zhì)量的16Gbps信 號(hào)、能夠支持外部100MHz參考時(shí)鐘的輸入、能夠產(chǎn)生PCIe測試需要的不同Preset的預(yù)加 重組合，同時(shí)還要能夠?qū)敵龅男盘?hào)進(jìn)行抖動(dòng)和噪聲的調(diào)制，并對(duì)接收回來的信號(hào)進(jìn)行均 衡、時(shí)鐘恢復(fù)以及相應(yīng)的誤碼判決，在進(jìn)行測試之前還需要能夠支持完善的鏈路協(xié)商。17是 一 個(gè)典型的發(fā)射機(jī)LinkEQ測試環(huán)境。由于發(fā)送端與鏈路協(xié)商有關(guān)的測試項(xiàng)目 與下面要介紹的接收容限測試的連接和組網(wǎng)方式比較類似，所以細(xì)節(jié)也可以參考下面章節(jié) 內(nèi)容...

PCIe4.0的發(fā)射機(jī)質(zhì)量測試發(fā)射機(jī)質(zhì)量是保證鏈路能夠可靠工作的先決條件，對(duì)于PCIe的發(fā)射機(jī)質(zhì)量測試來說，主要是用寬帶示波器捕獲其發(fā)出的信號(hào)并驗(yàn)證其信號(hào)質(zhì)量滿足規(guī)范要求。按照目前規(guī)范中的要求，PCIe3.0的一致性測試需要至少12.5GHz帶寬的示波器；而對(duì)于PCIe4.0來說，由于數(shù)據(jù)速率提高到了16Gbps,所以測試需要的示波器帶寬應(yīng)為25GHz或以上。如果要進(jìn)行主板的測試，測試規(guī)范推薦Dual-Port(雙口)的測試方式，即把被測的數(shù)據(jù)通道和參考時(shí)鐘同時(shí)接入示波器，這樣在進(jìn)行抖動(dòng)分析時(shí)就可以把一部分參考時(shí)鐘中的抖動(dòng)抵消掉，對(duì)于參考時(shí)鐘Jitter的要求可以放松一些。PCI Expres...

PCIe4.0的測試夾具和測試碼型要進(jìn)行PCIe的主板或者插卡信號(hào)的一致性測試(即信號(hào)電氣質(zhì)量測試),首先需要使用PCIe協(xié)會(huì)提供的夾具把被測信號(hào)引出。PCIe的夾具由PCI-SIG定義和銷售，主要分為CBB(ComplianceBaseBoard)和CLB(ComplianceLoadBoard)。對(duì)于發(fā)送端信號(hào)質(zhì)量測試來說，CBB用于插卡的測試，CLB用于主板的測試；但是在接收容限測試中，由于需要把誤碼儀輸出的信號(hào)通過夾具連接示波器做校準(zhǔn)，所以無論是主板還是插卡的測試，CBB和CLB都需要用到。PCI-E測試信號(hào)質(zhì)量測試；中國香港PCI-E測試檢修簡單總結(jié)一下，PCIe4.0和PCIe3....

PCle5.0的鏈路模型及鏈路損耗預(yù)算在實(shí)際的測試中，為了把被測主板或插卡的PCIe信號(hào)從金手指連接器引出，PCI-SIG組織也設(shè)計(jì)了專門的PCIe5.0測試夾具。PCle5.0的這套夾具與PCle4.0的類似，也是包含了CLB板、CBB板以及專門模擬和調(diào)整鏈路損耗的ISI板。主板的發(fā)送信號(hào)質(zhì)量測試需要用到對(duì)應(yīng)位寬的CLB板；插卡的發(fā)送信號(hào)質(zhì)量測試需要用到CBB板；而在接收容限測試中，由于要進(jìn)行全鏈路的校準(zhǔn)，整套夾具都可能會(huì)使用到。21是PCIe5.0的測試夾具組成。PCI-e硬件科普:PCI-e到底是什么?智能化多端口矩陣測試PCI-E測試HDMI測試為了克服大的通道損耗，PCle5.0接收...

在之前的PCIe規(guī)范中，都是假定PCIe芯片需要外部提供一個(gè)參考時(shí)鐘(RefClk),在這 種芯片的測試中也是需要使用一個(gè)低抖動(dòng)的時(shí)鐘源給被測件提供參考時(shí)鐘，并且只需要對(duì) 數(shù)據(jù)線進(jìn)行測試。而在PCIe4.0的規(guī)范中，新增了允許芯片使用內(nèi)部提供的RefClk(被稱 為Embeded RefClk)模式，這種情況下被測芯片有自己內(nèi)部生成的參考時(shí)鐘，但參考時(shí)鐘的 質(zhì)量不一定非常好，測試時(shí)需要把參考時(shí)鐘也引出，采用類似于主板測試中的Dual-port測 試方法。如果被測芯片使用內(nèi)嵌參考時(shí)鐘且參考時(shí)鐘也無法引出，則意味著被測件工作在 SRIS(Separate Refclk Independent SS...

相應(yīng)地，在CC模式下參考時(shí)鐘的 抖動(dòng)測試中，也會(huì)要求測試軟件能夠很好地模擬發(fā)送端和接收端抖動(dòng)傳遞函數(shù)的影響。而 在IR模式下，主板和插卡可以采用不同的參考時(shí)鐘，可以為一些特殊的不太方便進(jìn)行參考 時(shí)鐘傳遞的應(yīng)用場景(比如通過Cable連接時(shí))提供便利，但由于收發(fā)端參考時(shí)鐘不同源，所 以對(duì)于收發(fā)端的設(shè)計(jì)難度要大一些(比如Buffer深度以及時(shí)鐘頻差調(diào)整機(jī)制)。IR模式下 用戶可以根據(jù)需要在參考時(shí)鐘以及PLL的抖動(dòng)之間做一些折中和平衡，保證*終的發(fā)射機(jī) 抖動(dòng)指標(biāo)即可。圖4.9是PCIe4.0規(guī)范參考時(shí)鐘時(shí)的時(shí)鐘架構(gòu)，以及不同速率下對(duì)于 芯片Refclk抖動(dòng)的要求。PCI-E3.0的接收端測試中的Re...

在2010年推出PCle3.0標(biāo)準(zhǔn)時(shí)，為了避免10Gbps的電信號(hào)傳輸帶來的挑戰(zhàn)，PCI-SIG 終把PCle3.0的數(shù)據(jù)傳輸速率定在8Gbps,并在PCle3.0及之后的標(biāo)準(zhǔn)中把8b/10b編碼 更換為更有效的128b/130b編碼，以提高有效的數(shù)據(jù)傳輸帶寬。同時(shí)，為了保證數(shù)據(jù)傳輸 密度和直流平衡，還采用了擾碼的方法，即數(shù)據(jù)傳輸前先和一個(gè)多項(xiàng)式進(jìn)行異或，這樣傳輸 鏈路上的數(shù)據(jù)就看起來比較有隨機(jī)性，可以保證數(shù)據(jù)的直流平衡并方便接收端的時(shí)鐘恢復(fù)。 擾碼后的數(shù)據(jù)到了接收端會(huì)再用相同的多項(xiàng)式把數(shù)據(jù)恢復(fù)出來。PCIE與負(fù)載只有時(shí)鐘線和數(shù)據(jù)線，搜索的時(shí)候沒有控制管理線，怎么找到的寄存器呢？設(shè)備P...

另外，在PCIe4 .0發(fā)送端的LinkEQ以及接收容限等相關(guān)項(xiàng)目測試中，都還需要用到能 與被測件進(jìn)行動(dòng)態(tài)鏈路協(xié)商的高性能誤碼儀。這些誤碼儀要能夠產(chǎn)生高質(zhì)量的16Gbps信 號(hào)、能夠支持外部100MHz參考時(shí)鐘的輸入、能夠產(chǎn)生PCIe測試需要的不同Preset的預(yù)加 重組合，同時(shí)還要能夠?qū)敵龅男盘?hào)進(jìn)行抖動(dòng)和噪聲的調(diào)制，并對(duì)接收回來的信號(hào)進(jìn)行均 衡、時(shí)鐘恢復(fù)以及相應(yīng)的誤碼判決，在進(jìn)行測試之前還需要能夠支持完善的鏈路協(xié)商。17是 一 個(gè)典型的發(fā)射機(jī)LinkEQ測試環(huán)境。由于發(fā)送端與鏈路協(xié)商有關(guān)的測試項(xiàng)目 與下面要介紹的接收容限測試的連接和組網(wǎng)方式比較類似，所以細(xì)節(jié)也可以參考下面章節(jié) 內(nèi)容...

Cle4.0測試的CBB4和CLB4夾具無論是Preset還是信號(hào)質(zhì)量的測試，都需要被測件工作在特定速率的某些Preset下，要通過測試夾具控制被測件切換到需要的設(shè)置狀態(tài)。具體方法是：在被測件插入測試夾具并且上電以后，可以通過測試夾具上的切換開關(guān)控制DUT輸出不同速率的一致性測試碼型。在切換測試夾具上的Toggle開關(guān)時(shí)，正常的PCle4.0的被測件依次會(huì)輸出2.5Gbps、5Gbps-3dB、5Gbps-6dB、8GbpsP0、8GbpsP1、8GbpsP2、8GbpsP3、8GbpsP4、8Gbps如何區(qū)分pci和pci-e(如何區(qū)分pci和pcie) ？吉林PCI-E測試執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)由于每對(duì)...

并根據(jù)不同位置處的誤碼率繪制出類似眼圖的分布圖，這個(gè)分布圖與很多誤碼儀中眼圖掃描功能的實(shí)現(xiàn)原理類似。雖然和示波器實(shí) 際測試到的眼圖從實(shí)現(xiàn)原理和精度上都有一定差異，但由于內(nèi)置在接收芯片內(nèi)部，在實(shí)際環(huán) 境下使用和調(diào)試都比較方便。PCIe4.0規(guī)范中對(duì)于Lane Margin掃描的水平步長分辨率、 垂直步長分辨率、樣點(diǎn)和誤碼數(shù)統(tǒng)計(jì)等都做了一些規(guī)定和要求。Synopsys公司展 示的16Gbps信號(hào)Lane Margin掃描的示例?？藙诘赂咚贁?shù)字信號(hào)測試實(shí)驗(yàn)室PCI-e硬件科普:PCI-e到底是什么?北京自動(dòng)化PCI-E測試CTLE均衡器可以比較好地補(bǔ)償傳輸通道的線性損耗，但是對(duì)于一些非線性因素(比如...

需要注意的是，每一代CBB和CLB的設(shè)計(jì)都不太一樣，特別是CBB的 變化比較大，所以測試中需要加以注意。圖4.10是支持PCIe4.0測試的夾具套件，主要包括1塊CBB4測試夾具、2塊分別支持x1/x16位寬和x4/x8位寬的CLB4測試夾具、1塊可 變ISI的測試夾具。在測試中，CBB4用于插卡的TX測試以及主板RX測試中的校準(zhǔn)； CLB4用于主板TX的測試以及插卡RX測試中的校準(zhǔn)；可變ISI的測試夾具是PCIe4 .0中 新增加的，無論是哪種測試，ISI板都是需要的。引入可變ISI測試夾具的原因是在PCIe4.0 的測試規(guī)范中，要求通過硬件通道的方式插入傳輸通道的影響，用于模擬實(shí)際主板或插...