為了克服大的通道損耗，PCle5.0接收端的均衡能力也會(huì)更強(qiáng)一些。比如接收端的 CTLE均衡器采用了2階的CTLE均衡,其損耗/增益曲線有4個(gè)極點(diǎn)和2個(gè)零點(diǎn)，其直流增益可以在-5～ - 15dB之間以1dB的分辨率進(jìn)行調(diào)整，以精確補(bǔ)償通道損耗的  影響。同時(shí)，為了更好地補(bǔ)償信號(hào)反射、串?dāng)_的影響，其接收端的DFE均衡器也使用了更復(fù) 雜的3-Tap均衡器。對(duì)于發(fā)射端來(lái)說(shuō)，PCle5.0相對(duì)于PCIe4.0和PCIe3.0來(lái)說(shuō)變化不大， 仍然是3階的FIR預(yù)加重以及11種預(yù)設(shè)好的Preset組合。我的被測(cè)件不是標(biāo)準(zhǔn)的PCI-E插槽金手指的接口，怎么進(jìn)行PCI-E的測(cè)試？江西PCI-E測(cè)試聯(lián)系人

在之前的PCIe規(guī)范中，都是假定PCIe芯片需要外部提供一個(gè)參考時(shí)鐘(RefClk),在這 種芯片的測(cè)試中也是需要使用一個(gè)低抖動(dòng)的時(shí)鐘源給被測(cè)件提供參考時(shí)鐘，并且只需要對(duì) 數(shù)據(jù)線進(jìn)行測(cè)試。而在PCIe4.0的規(guī)范中，新增了允許芯片使用內(nèi)部提供的RefClk(被稱 為Embeded RefClk)模式，這種情況下被測(cè)芯片有自己內(nèi)部生成的參考時(shí)鐘，但參考時(shí)鐘的 質(zhì)量不一定非常好，測(cè)試時(shí)需要把參考時(shí)鐘也引出，采用類似于主板測(cè)試中的Dual-port測(cè) 試方法。如果被測(cè)芯片使用內(nèi)嵌參考時(shí)鐘且參考時(shí)鐘也無(wú)法引出，則意味著被測(cè)件工作在 SRIS(Separate Refclk Independent SSC)模式，需要另外的算法進(jìn)行特殊處理。中國(guó)澳門PCI-E測(cè)試信號(hào)完整性測(cè)試PCI-E3.0的接收端測(cè)試中的Repeater起作用？

PCle5.0接收端CILE均衡器的頻率響應(yīng)PCIe5.0的主板和插卡的測(cè)試方法與PCIe4.0也是類似，都需要通過(guò)CLB或者CBB的測(cè)試夾具把被測(cè)信號(hào)引出接入示波器進(jìn)行發(fā)送信號(hào)質(zhì)量測(cè)試，并通過(guò)誤碼儀的配合進(jìn)行LinkEQ和接收端容限的測(cè)試。但是具體細(xì)節(jié)和要求上又有所區(qū)別，下面將從發(fā)送端和接收端測(cè)試方面分別進(jìn)行描述。

PCIe5.0發(fā)送端信號(hào)質(zhì)量及LinkEQ測(cè)試PCIe5.0的數(shù)據(jù)速率高達(dá)32Gbps,因此信號(hào)邊沿更陡。對(duì)于PCIe5.0芯片的信號(hào)測(cè)試，協(xié)會(huì)建議的測(cè)試用的示波器帶寬要高達(dá)50GHz。對(duì)于主板和插卡來(lái)說(shuō)，由于測(cè)試點(diǎn)是在連接器的金手指處，信號(hào)經(jīng)過(guò)PCB傳輸后邊沿會(huì)變緩一些，所以信號(hào)質(zhì)量測(cè)試規(guī)定的示波器帶寬為33GHz。但是，在接收端容限測(cè)試中，由于需要用示波器對(duì)誤碼儀直接輸出的比較快邊沿的信號(hào)做幅度和預(yù)加重校準(zhǔn)，所以校準(zhǔn)用的示波器帶寬還是會(huì)用到50GHz。

在物理層方面，PCIe總線采用多對(duì)高速串行的差分信號(hào)進(jìn)行雙向高速傳輸，每對(duì)差分  線上的信號(hào)速率可以是第1代的2 . 5Gbps、第2代的5Gbps、第3代的8Gbps、第4代的  16Gbps、第5代的32Gbps,其典型連接方式有金手指連接、背板連接、芯片直接互連以及電  纜連接等。根據(jù)不同的總線帶寬需求，其常用的連接位寬可以選擇x1、x4、x8、x16等。如  果采用×16連接以及第5代的32Gbps速率，理論上可以支持約128GBps的雙向總線帶寬。 另外，2019年P(guān)CI-SIG宣布采用PAM-4技術(shù)，單Lane數(shù)據(jù)速率達(dá)到64Gbps的第6代標(biāo)  準(zhǔn)規(guī)范也在討論過(guò)程中。列出了PCIe每一代技術(shù)發(fā)展在物理層方面的主要變化。PCIE與負(fù)載只有時(shí)鐘線和數(shù)據(jù)線，搜索的時(shí)候沒(méi)有控制管理線，怎么找到的寄存器呢？

首先來(lái)看一下惡劣信號(hào)的定義，不是隨便一個(gè)信號(hào)就可以，且惡劣程度要有精確定義才 能保證測(cè)量的重復(fù)性。通常把用于接收端容限測(cè)試的這個(gè)惡劣信號(hào)叫作Stress Eye,即壓 力眼圖，實(shí)際上是借鑒了光通信的叫法。這個(gè)信號(hào)是用高性能的誤碼儀先產(chǎn)生一個(gè)純凈的 帶特定預(yù)加重的信號(hào)，然后在這個(gè)信號(hào)上疊加精確控制的隨機(jī)抖動(dòng)(RJ)、周期抖動(dòng)(SJ)、差 模和共模噪聲以及碼間干擾(ISI)。為了確定每個(gè)成分的大小都符合規(guī)范的要求，測(cè)試之前需要先用示波器對(duì)誤碼儀輸出的信號(hào)進(jìn)行校準(zhǔn)。其中，ISI抖動(dòng)是由PCIe協(xié)會(huì)提供的測(cè)試 夾具產(chǎn)生，其夾具上會(huì)模擬典型的主板或者插卡的PCB走線對(duì)信號(hào)的影響。在PCIe3.0的 CBB夾具上，增加了專門的Riser板以模擬服務(wù)器等應(yīng)用場(chǎng)合的走線對(duì)信號(hào)的影響；而在 PCIe4.0和PCIe5.0的夾具上，更是增加了專門的可變ISI的測(cè)試板用于模擬和調(diào)整ISI的 影響。pcie 有幾種類型,哪個(gè)速度快?寧夏PCI-E測(cè)試保養(yǎng)

PCIE 5.0，速率翻倍vs性能優(yōu)化；江西PCI-E測(cè)試聯(lián)系人

校準(zhǔn)完成后，在進(jìn)行正式測(cè)試前，很重要的一點(diǎn)就是要能夠設(shè)置被測(cè)件進(jìn)入環(huán)回模式。 雖然調(diào)試時(shí)也可能會(huì)借助芯片廠商提供的工具設(shè)置環(huán)回，但標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試方法還是要基于鏈  路協(xié)商和通信進(jìn)行被測(cè)件環(huán)回模式的設(shè)置。傳統(tǒng)的誤碼儀不具有對(duì)于PCle協(xié)議理解的功  能，只能盲發(fā)訓(xùn)練序列，這樣的缺點(diǎn)是由于沒(méi)有經(jīng)過(guò)正常的鏈路協(xié)商，可能會(huì)無(wú)法把被測(cè)件  設(shè)置成正確的狀態(tài)?，F(xiàn)在一些新型的誤碼儀平臺(tái)已經(jīng)集成了PCIe的鏈路協(xié)商功能，能夠  真正和被測(cè)件進(jìn)行訓(xùn)練序列的溝通，除了可以有效地把被測(cè)件設(shè)置成正確的環(huán)回狀態(tài)，還可  以和對(duì)端被測(cè)設(shè)備進(jìn)行預(yù)加重和均衡的鏈路溝通。江西PCI-E測(cè)試聯(lián)系人