本發(fā)明涉及剝離液技術(shù)領(lǐng)域：，更具體的說是涉及一種光刻膠剝離液再生方法。背景技術(shù)：：電子行業(yè)飛速發(fā)展，光刻膠應(yīng)用也越來越***。在半導(dǎo)體元器件制造過程中，經(jīng)過涂敷-顯影-蝕刻過程，在底層金屬材料上蝕刻出所需線條之后，必須在除去殘余光刻膠的同時(shí)不能損傷任何基材，才能再進(jìn)行下道工序。因此，光刻膠的剝離質(zhì)量也有直接影響著產(chǎn)品的質(zhì)量。而隨著電子行業(yè)的發(fā)展以及高世代面板的面世，光刻膠剝離液的使用越來越多。剝離液廢液中含有光刻膠樹脂、水和某些金屬雜質(zhì)，而剝離液廢液的處理主要是通過焚燒或者低水平回收，其大量的使用但不能夠有效地回收，對環(huán)境、資源等都造成了比較大的影響。有鑒于此，申請人研發(fā)出以下的對使用后的光刻膠剝離液回收及再生方法。技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：本發(fā)明的目的是提供一種光刻膠剝離液再生方法。為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用如下技術(shù)方案：本申請公開了一種高世代面板銅制程光刻膠剝離液，包括以下質(zhì)量組分：光刻膠剝離液再生方法，包括以下步驟：s1：回收剝離液新液使用后的剝離液廢液，將剝離液廢液經(jīng)過蒸餾、加壓工序，得出剝離液廢液的純化液體；純化液體中含有酰胺化合物、醇醚化合物以及胺化合物；s2：制備添加劑。維信諾用的哪家的剝離液？揚(yáng)州BOE蝕刻液剝離液推薦廠家

所述的鏈胺為乙醇胺、二乙醇胺、三乙醇胺、二甘醇胺、異丙醇胺、甲基二乙醇胺、amp-95中的任意一種或多種。技術(shù)方案中，所述的環(huán)胺為氨乙基哌嗪、羥乙基哌嗪、氨乙基嗎啉中的任意一種或多種。技術(shù)方案中，所述的緩蝕劑為三唑類物質(zhì)。的技術(shù)方案中，所述的緩蝕劑為苯并三氮唑、甲基苯并三氮唑中的任意一種。技術(shù)方案中，所述的潤濕劑含有羥基。技術(shù)方案中，所述的潤濕劑為聚乙二醇、甘油中的任意一種。經(jīng)由上述的技術(shù)方案可知，與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明具有以下有益效果：本發(fā)明中加入環(huán)胺與鏈胺，能夠滲透、斷開光刻膠分子間弱結(jié)合力，能夠快速、有效地溶解光刻膠，而配方中加入潤濕劑，能夠有效地減少接觸角，增強(qiáng)親水性，使得剝離液親水性良好，能快速高效地剝離溶解光刻膠。附圖說明：圖1為配方一和配方二的剝離液滴落在平面時(shí)兩者的接觸角對比圖。圖2為配方一和配方二的剝離液應(yīng)用是光刻膠的殘留量對比圖。具體實(shí)施方式現(xiàn)有技術(shù)中的剝離液其水置換能力較差，容易造成面板邊緣光刻膠殘留，本申請經(jīng)過大量的試驗(yàn)，創(chuàng)造性的發(fā)現(xiàn)，在剝離液中加入潤濕劑，能夠使固體物料(高世代面板)更易被水浸濕的物質(zhì)，通過降低其表面張力或界面張力，使水能展開在固體物料?；葜葶~蝕刻液剝離液聯(lián)系方式哪家的剝離液價(jià)格比較低？

所述抽真空氣體修飾法包括如下步驟：將將襯底和光刻膠抗粘劑置于密閉空間中，對密閉空間抽真空至光刻膠抗粘層氣化，保持1分鐘以上，直接取出襯底。進(jìn)一步的改進(jìn)，所述襯底為硅、氧化硅、石英、玻璃、氮化硅、碳化硅、鈮酸鋰、金剛石、藍(lán)寶石或ito制成。進(jìn)一步的改進(jìn)，所述步驟(2)對襯底修飾的試劑包括hmds和十三氟正辛基硅烷；對襯底修飾的試劑鍍在襯底表面。進(jìn)一步的改進(jìn)，所述所述光刻膠包括pmma,zep，瑞紅膠，az膠，納米壓印膠和光固化膠。進(jìn)一步的改進(jìn)，所述光刻膠厚度為1nm-100mm進(jìn)一步的改進(jìn)，所述光刻膠上加工出所需結(jié)構(gòu)的輪廓的方法為電子束曝光，離子束曝光，聚焦離子束曝光，重離子曝光，x射線曝光，等離子體刻蝕，紫外光刻，極紫外光刻，激光直寫或納米壓印。進(jìn)一步的改進(jìn)，所述黏貼層為pdms，紫外固化膠，熱釋放膠，高溫膠帶，普通膠帶，pva,纖維素或ab膠。上述選擇性剝離光刻膠制備微納結(jié)構(gòu)的方法制備的微納結(jié)構(gòu)用于微納制造，光學(xué)領(lǐng)域，電學(xué)，生物領(lǐng)域，mems領(lǐng)域，nems領(lǐng)域。本發(fā)明的有益效果在于，解決了現(xiàn)有負(fù)性光刻膠加工效率低，難于去膠，去膠過程中損傷襯底，對于跨尺度結(jié)構(gòu)的加工過程中加工精度和效率的矛盾等問題。

本發(fā)明涉及半導(dǎo)體制造領(lǐng)域，特別是涉及一種用于包括但不限于半導(dǎo)體生產(chǎn)工藝中光刻膠去除步驟的光刻膠剝離去除方法。背景技術(shù)：光刻膠是一大類具有光敏化學(xué)作用(或?qū)﹄娮幽芰棵舾?的高分子聚合物材料，是轉(zhuǎn)移紫外曝光或電子束曝照圖案的媒介。光刻膠的也稱為光致抗蝕劑、光阻等，其作用是作為抗刻蝕層保護(hù)襯底表面。光刻膠廣泛應(yīng)用于集成電路(ic)、封裝(packaging)、微機(jī)電系統(tǒng)(mems)、光電子器件光子器件(optoelectronics/photonics)、平板顯示其(led、lcd、oled)和太陽能光伏(solarpv)等領(lǐng)域。在半導(dǎo)體制造領(lǐng)域，離子注入層光刻膠(參考圖2)在經(jīng)過高劑量或大分子量的源種注入后(參考圖3)，會(huì)在光刻膠的外層形成一層硬殼(參考圖4)本發(fā)明命名為主要光刻膠層。現(xiàn)有的離子注入層光刻膠在經(jīng)過氧氣灰化干法剝離時(shí)，由于等離子氧與光刻膠反應(yīng)速率很高，會(huì)有一部分等離子氧先穿透主要光刻膠層到達(dá)第二光刻膠層，在與第二光刻膠層反應(yīng)后在內(nèi)部產(chǎn)生大量氣體，第二層光刻膠膨脹(參考圖5)，主要光刻膠層終因承受不住內(nèi)層巨大的氣壓而爆裂，爆裂的光刻膠有一定的概率掉落在臨近的光刻膠上(參考圖6)，導(dǎo)致此交疊的光刻膠不能法剝離干凈。在經(jīng)過后續(xù)批作業(yè)的濕法剝離后會(huì)產(chǎn)生殘余物。哪家的剝離液比較好用點(diǎn)？

需要說明的是，本發(fā)明剝離液中，推薦*由上述成分構(gòu)成，但只要不阻礙本發(fā)明的效果，可以含有例如聚氧化烯烷基醚系、硅系的消泡劑等其它成分。以上說明的本發(fā)明剝離液可以通過將上述成分溶于水中來制備。需要說明的是，本發(fā)明剝離液的ph若為堿性則沒有特別限定，但通常**將上述成分溶于水就成為堿性，因此沒有特別必要調(diào)整ph。另外，本發(fā)明剝離液可以通過將上述成分分別分開預(yù)先溶于水，成為抗蝕劑的剝離液套件，將它們混合來制備。具體來說，可以舉出以包含含有鉀鹽的第1液和含有溶纖劑的第2液為特征的抗蝕劑的剝離液套件、其中還包含含有硅酸鹽的第3液的抗蝕劑的剝離液套件、進(jìn)而在其中使上述其它成分適當(dāng)含有于各液中的抗蝕劑的剝離液套件等。通過使用本發(fā)明剝離液對施加有抗蝕劑的基材進(jìn)行處理，抗蝕劑被細(xì)小地粉碎。哪家的剝離液性價(jià)比比較高？佛山剝離液產(chǎn)品介紹

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能夠增強(qiáng)親水性，使得剝離液親水性良好，能快速高效地剝離溶解光刻膠。潤濕劑含有羥基，為聚乙二醇、甘油中的任意一種。下面通過具體實(shí)施例對本申請作進(jìn)一步詳細(xì)說明。以下實(shí)施例對本申請進(jìn)行進(jìn)一步說明，不應(yīng)理解為對本申請的限制。表一：兩種不同組分的剝離液配方一和配方二所采用的基礎(chǔ)組分基本相同，不同的是配方二中加入有潤濕劑，上述所描述的潤濕劑是用于增強(qiáng)親水性的，滴液與產(chǎn)品表面間的夾角為接觸角，接觸角可用來衡量潤濕程度，水滴角測試儀可測量接觸角，從潤濕角度考慮，接觸角＜90°，且接觸角越小潤濕效果越好加入潤濕劑后的配方二所制得的剝離液，在滴落在高世代面板后，通過水滴角測試儀測接觸角，檢測圖如圖1所示，三次測試的接觸角如下表二：上述兩種不同組分的剝離液作接觸角測試接觸角配方一配方二測試一，加入潤濕劑后的配方二所制得的剝離液，其滴落在高世代面板后，其接觸角比未加入潤濕劑的配方一的剝離液潤濕效果更好；請參閱圖2所示，將配方一所制得的剝離液以及配方二所制得的剝離液進(jìn)行光刻膠剝離，圖2中的陰影圓點(diǎn)為浸泡時(shí)間t1后光刻膠殘留，明顯地，可以看出配方二中t1時(shí)間后光刻膠殘留量小，而配方一中產(chǎn)品邊緣處光刻膠的殘留量大。揚(yáng)州BOE蝕刻液剝離液推薦廠家