PECVD技術(shù)是在低氣壓下，利用低溫等離子體在工藝腔體的陰極上（即樣品放置的托盤）產(chǎn)生輝光放電，利用輝光放電（或另加發(fā)熱體）使樣品升溫到預(yù)定的溫度，然后通入適量的工藝氣體，這些氣體經(jīng)一系列化學(xué)反應(yīng)和等離子體反應(yīng)，在樣品表面形成固態(tài)薄膜。在反應(yīng)過(guò)程中，反應(yīng)氣體從進(jìn)氣口進(jìn)入爐腔，逐漸擴(kuò)散至樣品表面，在射頻源激發(fā)的電場(chǎng)作用下，反應(yīng)氣體分解成電子、離子和活性基團(tuán)等。這些分解物發(fā)生化學(xué)反應(yīng)，生成形成膜的初始成分和副反應(yīng)物，這些生成物以化學(xué)鍵的形式吸附到樣品表面，生成固態(tài)膜的晶核，晶核逐漸生長(zhǎng)成島狀物，島狀物繼續(xù)生長(zhǎng)成連續(xù)的薄膜。在薄膜生長(zhǎng)過(guò)程中，各種副產(chǎn)物從膜的表面逐漸脫離，在真空泵的作用下從出口排出。先進(jìn)的真空鍍膜技術(shù)提升產(chǎn)品美觀度?；茨蟄V光固化真空鍍膜

LPCVD加熱系統(tǒng)是用于提供反應(yīng)所需的高溫的部分，通常由電阻絲或鹵素?zé)艚M成。溫度控制系統(tǒng)是用于監(jiān)測(cè)和調(diào)節(jié)反應(yīng)室內(nèi)溫度的部分，通常由溫度傳感器和控制器組成。壓力控制系統(tǒng)是用于監(jiān)測(cè)和調(diào)節(jié)反應(yīng)室內(nèi)壓力的部分，通常由壓力傳感器和控制器組成。流量控制系統(tǒng)是用于監(jiān)測(cè)和調(diào)節(jié)氣體前驅(qū)體的流量的部分，通常由流量計(jì)和控制器組成。LPCVD設(shè)備的設(shè)備構(gòu)造還需要考慮以下幾個(gè)方面的因素：（1）反應(yīng)室的形狀和尺寸，影響了氣體在反應(yīng)室內(nèi)的流動(dòng)和分布，從而影響了薄膜的均勻性和質(zhì)量；（2）反應(yīng)室的材料和表面處理，影響了反應(yīng)室壁面上沉積的材料和顆粒污染，從而影響了薄膜的純度和清洗頻率；（3）襯底的放置方式和數(shù)量，影響了襯底之間的間距和方向，從而影響了薄膜的厚度和均勻性；（4）加熱方式和溫度分布，影響了襯底材料的熱損傷和熱預(yù)算，從而影響了薄膜的結(jié)構(gòu)和性能。上海真空鍍膜外協(xié)PECVD主要應(yīng)用在芯片制造、太陽(yáng)能電池、光伏等領(lǐng)域。

磁控濺射可以使用各種類型的氣體進(jìn)行，例如氬氣、氮?dú)夂脱鯕獾取怏w的選擇取決于薄膜的所需特性和應(yīng)用。例如，氬氣通常用作沉積金屬的濺射氣體，而氮?dú)鈩t用于沉積氮化物。磁控濺射可以以各種配置進(jìn)行，例如直流(DC)、射頻(RF)和脈沖DC模式。每種配置都有其優(yōu)點(diǎn)和缺點(diǎn)，配置的選擇取決于薄膜的所需特性和應(yīng)用。磁控濺射是利用磁場(chǎng)束縛電子的運(yùn)動(dòng)，提高電子的離化率。與傳統(tǒng)濺射相比具有“低溫（碰撞次數(shù)的增加，電子的能量逐漸降低，在能量耗盡以后才落在陽(yáng)極）”、“高速（增長(zhǎng)電子運(yùn)動(dòng)路徑，提高離化率，電離出更多的轟擊靶材的離子）”兩大特點(diǎn)。

真空鍍膜技術(shù)屬于表面處理技術(shù)的一類，應(yīng)用非常廣。主要應(yīng)用有一下幾類：光學(xué)膜:用于CCD、CMOS中的各種濾波片，高反鏡。功能膜:用于制造電阻、電容，半導(dǎo)體薄膜，刀具鍍膜，車燈，車燈罩，激光，太陽(yáng)能等。裝飾膜:手機(jī)/家電裝飾鍍膜，汽車標(biāo)牌，化妝品盒蓋，建筑裝飾玻璃、汽車玻璃，包裝袋。真空鍍膜對(duì)真空的要求非常嚴(yán)格，根據(jù)不同的真控制可以劃分為低真空（1至1E-5Torr），中真空（1E-5至1E-6Torr），高真空（1E-6至1E-8Torr），超高真空（低于1E-9Torr），針對(duì)不同的真空有多種測(cè)量方式，電容膜片（CDG）、導(dǎo)熱（Piriani）、熱陰極電離（HCIG)、粘度（自旋轉(zhuǎn)子）等。衡量沉積質(zhì)量的主要指標(biāo)有均勻度、臺(tái)階覆蓋率、溝槽填充程度。

對(duì)于PECVD如果成膜質(zhì)量差，則主要由一下幾項(xiàng)因素造成：1.樣片表面清潔度差，檢查樣品表面是否清潔。2.工藝腔體清潔度差，清洗工藝腔體。3.樣品溫度異常，檢查溫控系統(tǒng)是否正常，校準(zhǔn)測(cè)溫?zé)犭娕肌?.膜淀積過(guò)程中壓力異常，檢查腔體真空系統(tǒng)漏率。5.射頻功率設(shè)置不合理，檢查射頻電源，調(diào)整設(shè)置功率。影響PECVD工藝質(zhì)量的因素主要有以下幾個(gè)方面：1.起輝電壓：間距的選擇應(yīng)使起輝電壓盡量低，以降低等離子電位，減少對(duì)襯底的損傷。2.極板間距和腔體氣壓：極板間距較大時(shí)，對(duì)襯底的損傷較小，但間距不宜過(guò)大，否則會(huì)加重電場(chǎng)的邊緣效應(yīng)，影響淀積的均勻性。反應(yīng)腔體的尺寸可以增加生產(chǎn)率，但是也會(huì)對(duì)厚度的均勻性產(chǎn)生影響。3.射頻電源的工作頻率，射頻PECVD通常采用50kHz~13.56MHz頻段射頻電源，頻率高，等離子體中離子的轟擊作用強(qiáng)，淀積的薄膜更加致密，但對(duì)襯底的損傷也比較大。PECVD，是一種利用等離子體在較低溫度下進(jìn)行沉積的一種薄膜生長(zhǎng)技術(shù)。上海真空鍍膜外協(xié)

真空鍍膜技術(shù)在汽車行業(yè)中應(yīng)用普遍?；茨蟄V光固化真空鍍膜

LPCVD技術(shù)在未來(lái)還有可能與其他技術(shù)相結(jié)合，形成新的沉積技術(shù)，以滿足不同領(lǐng)域的需求。例如，LPCVD技術(shù)可以與等離子體輔助技術(shù)相結(jié)合，形成等離子體輔助LPCVD（PLPCVD）技術(shù)，以實(shí)現(xiàn)更低的沉積溫度、更快的沉積速率、更好的薄膜質(zhì)量和性能等。又如，LPCVD技術(shù)可以與原子層沉積（ALD）技術(shù)相結(jié)合，形成原子層LPCVD（ALLPCVD）技術(shù)，以實(shí)現(xiàn)更高的厚度精度、更好的均勻性、更好的界面質(zhì)量和兼容性等。因此，LPCVD技術(shù)在未來(lái)還有可能產(chǎn)生新的變化和創(chuàng)新，為各種領(lǐng)域提供更多的可能性和機(jī)遇?；茨蟄V光固化真空鍍膜