LED 顯示屏的死燈現(xiàn)象往往給廠商帶來巨大困擾，擎奧檢測為此開發(fā)了專項失效分析方案。某品牌戶外顯示屏在暴雨后出現(xiàn)大量燈珠失效，技術人員通過密封性測試發(fā)現(xiàn)部分燈珠的灌封膠存在微裂紋，導致水汽侵入芯片。利用超聲掃描顯微鏡對燈珠內(nèi)部進行無損檢測，清晰呈現(xiàn)了水汽引發(fā)的電極腐蝕路徑。結合失效樹分析（FTA）方法，團隊追溯到封裝工藝中固化溫度不均的問題，并提出了階梯式升溫固化的改進建議，使產(chǎn)品的耐候性通過率提升至 99.5%。擎奧檢測的 LED 失效分析覆蓋多應用領域。南通中低功率LED失效分析金線斷裂

在 LED 驅(qū)動電源的失效分析領域，擎奧檢測的可靠性工程師們展現(xiàn)了獨到的技術視角。針對某款智能照明驅(qū)動電源的頻繁燒毀問題，他們通過功率循環(huán)試驗模擬電源的實際工作負荷，同時用示波器監(jiān)測電壓波形的畸變情況。結合熱仿真分析，發(fā)現(xiàn)電解電容的紋波電流過大是導致早期失效的關鍵，而這源于 PCB 布局中高頻回路設計不合理。團隊隨即提供了優(yōu)化的 Layout 方案，將電容的工作溫度降低 15℃，使電源的預期壽命從 2 萬小時延長至 5 萬小時。農(nóng)業(yè)照明 LED 的失效分析需要兼顧光效衰減與光譜穩(wěn)定性，擎奧檢測為此配備了專業(yè)的植物生長燈測試系統(tǒng)。某溫室大棚的 LED 生長燈在使用 6 個月后出現(xiàn)光合作用效率下降，技術人員通過積分球測試發(fā)現(xiàn)藍光波段的光通量衰減達 30%。進一步的材料分析顯示，熒光粉在特定波長紫外線下發(fā)生了晶格缺陷，這與散熱不足導致的芯片結溫過高密切相關。團隊隨后設計了強制風冷的散熱方案，并選用抗紫外老化的熒光粉材料，使燈具在 12 個月后的光效保持率提升至 85% 以上。南通中低功率LED失效分析金線斷裂擎奧檢測的 LED 失效分析覆蓋全生命周期。

在 LED 失效分析過程中，上海擎奧注重將環(huán)境測試數(shù)據(jù)與失效分析結果相結合，提高分析的準確性和科學性。公司擁有先進的環(huán)境測試設備，可模擬高溫、低溫、高低溫循環(huán)、濕熱、振動、沖擊等多種環(huán)境條件，對 LED 產(chǎn)品進行可靠性試驗。在獲取大量環(huán)境測試數(shù)據(jù)后，分析團隊會將這些數(shù)據(jù)與 LED 產(chǎn)品的失效現(xiàn)象進行關聯(lián)研究，探究不同環(huán)境因素對 LED 失效的影響規(guī)律，如高溫環(huán)境下 LED 光衰速度的變化、振動環(huán)境下焊點失效的概率等。通過這種結合，能夠更多維地了解 LED 產(chǎn)品的失效機制，為客戶提供更具針對性的解決方案，幫助客戶設計出更適應復雜環(huán)境的 LED 產(chǎn)品。

LED 驅(qū)動電路是 LED 產(chǎn)品的重心組成部分，其失效往往會導致整個 LED 產(chǎn)品無法正常工作，上海擎奧在 LED 驅(qū)動電路失效分析方面擁有專業(yè)的技術能力。公司配備了先進的電學參數(shù)測試設備，可對驅(qū)動電路的電壓、電流、功率等參數(shù)進行精細測量，結合材料分析技術對電路中的元器件進行微觀檢測，分析其失效原因，如電容老化、電阻燒毀、芯片損壞等。團隊會運用失效物理原理，深入研究驅(qū)動電路在不同工作條件下的失效機制，如過電壓、過電流、高溫等因素對電路性能的影響。通過系統(tǒng)的分析，為客戶提供驅(qū)動電路設計改進、元器件選型等方面的專業(yè)建議，提高 LED 產(chǎn)品的可靠性。運用失效物理原理分析 LED 產(chǎn)品故障機制。

上海擎奧的 LED 失效分析團隊由 30 余名可靠性設計工程、可靠性試驗和材料失效分析人員組成，其中行家團隊 10 余人，碩士及博士占比 20%，為高質(zhì)量的分析服務提供了堅實的人才保障。團隊成員具備豐富的行業(yè)經(jīng)驗和深厚的專業(yè)知識，熟悉各類 LED 產(chǎn)品的結構原理和失效模式。在開展分析工作時，團隊會充分發(fā)揮多學科交叉的優(yōu)勢，從材料學、物理學、電子工程等多個角度對 LED 失效問題進行深入研究。通過嚴謹?shù)臏y試流程、科學的數(shù)據(jù)分析方法和豐富的實踐經(jīng)驗，確保每一份分析報告的準確性和可靠性，為客戶提供專業(yè)、高效的技術支持，幫助客戶解決 LED 產(chǎn)品在研發(fā)、生產(chǎn)和使用過程中遇到的各類失效的難題。分析 LED 焊點失效的原因及影響因素。南京LED失效分析驅(qū)動電路

擎奧檢測分析 LED 溫度循環(huán)引發(fā)的失效。南通中低功率LED失效分析金線斷裂

LED 驅(qū)動電路的失效分析是上海擎奧服務的重要組成部分，團隊通過電磁兼容（EMC）測試室與電路仿真平臺，精確定位驅(qū)動電路導致的 LED 失效。針對某款 LED 路燈的頻繁閃爍問題，技術人員使用示波器捕捉驅(qū)動電源的輸出紋波，發(fā)現(xiàn)紋波系數(shù)超過 15%，結合頻譜分析儀檢測到的電磁干擾信號，確定是濾波電容失效導致的電源穩(wěn)定性不足。對于智能 LED 燈具的控制失效，團隊通過邏輯分析儀追蹤單片機的控制信號，結合環(huán)境應力篩選試驗（ESS），發(fā)現(xiàn)高溫環(huán)境下的芯片程序跑飛是主因，為客戶提供了驅(qū)動電路的抗干擾改進方案。南通中低功率LED失效分析金線斷裂