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因此，QFN的 焊盤設(shè)計建議為：焊盤伸出于器件引腳的外端， 而縮進(jìn)于器件的內(nèi) 端，這樣使得在器件引腳的內(nèi)外形成彎月型焊盤。在這里 很重要的一點(diǎn)是，在進(jìn)行設(shè)計計算時必須考慮器件的公差范圍。(圖9)BGA 設(shè)計圖10在BGA設(shè)計時，焊點(diǎn)的形狀（如淚滴型）可以通過特 別的布局使其成為可見的；就是說，淚滴型的焊點(diǎn)除了具 有奇怪的形狀外，它的方向也是很隨意的?？偠灾?器件面的焊盤和在PCB上的焊盤正好和BGA焊球的大小是 一樣的（圖10 ）。在德國Erlangen 大學(xué)，學(xué)者做了大量的 研究去評價單個焊盤形狀的模型；他們發(fā)現(xiàn)，無論焊盤是 圓形還是非圓形的，焊膏印刷圖形要保持為圓形不變。檢查是在元件...

適應(yīng)性程序沒有發(fā)現(xiàn)轉(zhuǎn)到無鉛會對焊點(diǎn)質(zhì)量的檢查帶來什么影響。缺陷看上去還是一樣的。毫無疑問，只需要稍微修改一下數(shù)據(jù)庫，就足以排除其他誤報可能會帶來的影響。在元件頂上的內(nèi)容改變時，就需要大量的工作，確定門限值。這些可以納入到標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)庫中。在元件的一端立起來時，***其他環(huán)節(jié)的檢測，便可以進(jìn)行可靠的分析。對于橋接的形成或者元件一端立起來的普遍看法，證明常常不是那樣。經(jīng)驗(yàn)表明，橋接的形成沒有改變，元件一端立起來的現(xiàn)像就會有所減少。通過使用AOI作為減少缺陷的工具，在裝配工藝過程的早期查找和消除錯誤，以實(shí)現(xiàn)良好的過程控制。吳中區(qū)整套自動化缺陷檢測設(shè)備設(shè)備廠家圖像分析模塊：運(yùn)行閾值分割、形態(tài)學(xué)處理算法 [...

聲參量自動判讀、實(shí)時動態(tài)波形顯示；接收靈敏度高（對微弱信號識別能力高，可準(zhǔn)確檢測缺陷大小和范圍）；體積小、重量輕、攜帶方便、雙通道、可擴(kuò)展性強(qiáng)；大容量充電電池――持久續(xù)集航，檢測無憂；智能處理軟件――實(shí)用、方便、功能強(qiáng)大；技術(shù)指標(biāo)：自動測樁系統(tǒng)主要用于跨孔聲波透射法樁身完整性的自動檢測，其他功能與超聲檢測儀完全相同。超聲透射法基樁、連續(xù)墻完整性快速檢測；超聲-回彈綜合法檢測混凝土抗壓強(qiáng)度；超聲法檢測混凝土裂縫深度、不密實(shí)區(qū)域及蜂窩空洞、結(jié)合面質(zhì)量、表面損傷層厚度、鋼管混凝土內(nèi)部缺陷；超聲法單孔一發(fā)雙收測井；耐火材料質(zhì)量檢測；地質(zhì)勘查、巖體、混凝土等非金屬材料力學(xué)性能檢測。通過使用AOI作為減少...

缺陷檢測是通過機(jī)器視覺技術(shù)對物品表面斑點(diǎn)、凹坑、劃痕等缺陷進(jìn)行自動化識別與評估的質(zhì)量控制技術(shù)。該技術(shù)廣泛應(yīng)用于金屬表面、玻璃表面、電子元器件等對外觀有嚴(yán)格要求的工業(yè)領(lǐng)域，主要采用圖像處理算法結(jié)合多光源協(xié)同成像系統(tǒng)，通過暗場、明場及透光打光方式增強(qiáng)不同材質(zhì)表面缺陷的成像效果 [1] [3]。2024年相關(guān)**技術(shù)顯示，檢測系統(tǒng)可通過線掃相機(jī)逐行拍攝與頻閃光源編程控制實(shí)現(xiàn)微米級檢測精度 [2]，配套的算法模型包含傳統(tǒng)圖像處理與深度學(xué)習(xí)混合方法，目前已形成覆蓋ISO標(biāo)準(zhǔn)、行業(yè)規(guī)范與企業(yè)內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn)的完整質(zhì)量體系?；亓骱负髾z查提供高度的安全性，因?yàn)樗R別由錫膏印刷、元件貼裝和回流過程引起的錯誤。工業(yè)園區(qū)附...

自動探傷系統(tǒng)是利用超聲波探傷技術(shù)，滿足用戶對探傷的實(shí)時性要求,并實(shí)現(xiàn)實(shí)時報警、 缺陷定位和當(dāng)量計算的探測系統(tǒng)。超聲波探傷技術(shù)在無損檢測領(lǐng)域中占有極其重要的地位。 近年來, 計算機(jī)軟硬件技術(shù)、 高速數(shù)字信號處理技術(shù)、 虛擬儀器技術(shù)的發(fā)展, 使無損檢測技術(shù)在數(shù)據(jù)處理手段、 儀器檢測性能、 設(shè)備系統(tǒng)化和智能化程度方面取得了巨大進(jìn)步。 [1] 目前已經(jīng)誕生了多種數(shù)字化便攜式探傷儀 , 然而自動化超聲波探傷系統(tǒng)仍以多通道模擬方式為主自動探傷系統(tǒng)中，基于嵌入式DSP 子系統(tǒng)可以滿足用戶對探傷的實(shí)時性要求, 實(shí)現(xiàn)實(shí)時報警、 缺陷定位和當(dāng)量計算; 另一方面, 利用PC 機(jī)強(qiáng)大的處理能力和豐富的資源, 完成對缺...

2D x-ray圖8當(dāng)應(yīng)用2D x-ray技術(shù)時，所有的器件都需要被布置在 PCB的正面。而用2Dx-ray去檢測這些器件時，還必須再定 義出一塊沒有器件的地方為“禁區(qū)”。對于有些BGAs，會 推薦使用一種淚滴型的不對稱焊盤設(shè)計，這使得焊錫的成 型性質(zhì)被系統(tǒng)錯誤的判斷為一種幾何的連接形態(tài)；此外， 一些特殊的QFN向內(nèi)或向外的彎月型焊盤設(shè)計也同樣有這種情況。QFN 焊盤設(shè)計QFN器件的焊盤尺寸、焊膏印 刷面積與它的引腳尺寸是同樣大小 的，而且器件的引腳是交錯排列在 封裝體底部的(圖8)。缺陷檢測是通過機(jī)器視覺技術(shù)對物品表面斑點(diǎn)、凹坑、劃痕等缺陷進(jìn)行自動化識別與評估的質(zhì)量控制技術(shù)。相城區(qū)附近自動化...

錫膏印刷之后如果錫膏印刷過程滿足要求，那么ICT發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)量可大幅度的減少。典型的印刷缺陷包括以下幾點(diǎn)：A.焊盤上焊錫不足。B.焊盤上焊錫過多。C.焊錫對焊盤的重合不良。D.焊盤之間的焊錫橋。在ICT上，相對這些情況的缺陷概率直接與情況的嚴(yán)重性成比例。輕微的少錫很少導(dǎo)致缺陷，而嚴(yán)重的情況，如根本無錫，幾乎總是在ICT造成缺陷。焊錫不足可能是元件丟失或焊點(diǎn)開路的一個原因。盡管如此，決定哪里放置AOI需要認(rèn)識到元件丟失可能是其它原因下發(fā)生的，這些原因必須放在檢查計劃內(nèi)。這個位置的檢查**直接地支持過程跟蹤和特征化。這個階段的定量過程控制數(shù)據(jù)包括，印刷偏移和焊錫量信息，而有關(guān)印刷焊錫的定性信息也會...

作為慣例，在生產(chǎn)中，測試系統(tǒng)應(yīng)當(dāng)根據(jù)生產(chǎn)批量的要 求建立并優(yōu)化。實(shí)際運(yùn)作中無數(shù)次地證明，*這樣做是遠(yuǎn) 遠(yuǎn)不夠的。如果在兩周的生產(chǎn)時間內(nèi)要測試一個新批次的 PCB，有可能會發(fā)生這樣的情況：ELKO的顏色突然由黑色 變?yōu)榱它S色，或者晶體管的引腳變短了、是彎的；或是電阻的顏色由黃色變成了藍(lán)色的，等等。AOI檢查程序必須而且能夠處理這些不同的變化所帶來 的問題。但是，其中的一些變化需要花費(fèi)時間進(jìn)行處理， 因?yàn)槲覀儾荒茴A(yù)先知道是否有一種新的元器件被使用，或 是存在一個錯誤的元器件布局。同時，面對質(zhì)量方面的困 難，大量允許的可能出現(xiàn)的情況也需要一個一致的，確實(shí) 可行的說明。深度學(xué)習(xí)模型：基于卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的...

錫膏印刷之后如果錫膏印刷過程滿足要求，那么ICT發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)量可大幅度的減少。典型的印刷缺陷包括以下幾點(diǎn)：A.焊盤上焊錫不足。B.焊盤上焊錫過多。C.焊錫對焊盤的重合不良。D.焊盤之間的焊錫橋。在ICT上，相對這些情況的缺陷概率直接與情況的嚴(yán)重性成比例。輕微的少錫很少導(dǎo)致缺陷，而嚴(yán)重的情況，如根本無錫，幾乎總是在ICT造成缺陷。焊錫不足可能是元件丟失或焊點(diǎn)開路的一個原因。盡管如此，決定哪里放置AOI需要認(rèn)識到元件丟失可能是其它原因下發(fā)生的，這些原因必須放在檢查計劃內(nèi)。這個位置的檢查**直接地支持過程跟蹤和特征化。這個階段的定量過程控制數(shù)據(jù)包括，印刷偏移和焊錫量信息，而有關(guān)印刷焊錫的定性信息也會...

而采用高速A /D 芯片, 采樣速率60M Hz, 分辨率10 位。 這就可以采用數(shù)字檢波技術(shù)取代模擬包絡(luò)檢波電路, 從而解決了上述問題并簡化了模擬部分的電路。 通過對采樣的數(shù)據(jù)進(jìn)行簡單的邏輯運(yùn)算, 就可使系統(tǒng)靈活配置全波、+ /- 半波、 射頻4 種檢波方式。 [2]軟閘門實(shí)時報警技術(shù)自動探傷設(shè)備對報警的實(shí)時性要求很高。傳統(tǒng)的探傷設(shè)備的閘門報警是由模擬電路實(shí)現(xiàn)的,需要閘門的動態(tài)補(bǔ)償。這部分電路雖能滿足報警實(shí)時性,但結(jié)構(gòu)復(fù)雜,易受干擾。探傷設(shè)備全數(shù)字化后,出現(xiàn)了軟閘門報警技術(shù),即采用軟件的方法進(jìn)行波形閘門比較。其優(yōu)點(diǎn)在于閘門的設(shè)定非常靈活,控制簡單,操作可靠,結(jié)合各種抗干擾數(shù)字濾波技術(shù),可以極...

而采用高速A /D 芯片, 采樣速率60M Hz, 分辨率10 位。 這就可以采用數(shù)字檢波技術(shù)取代模擬包絡(luò)檢波電路, 從而解決了上述問題并簡化了模擬部分的電路。 通過對采樣的數(shù)據(jù)進(jìn)行簡單的邏輯運(yùn)算, 就可使系統(tǒng)靈活配置全波、+ /- 半波、 射頻4 種檢波方式。 [2]軟閘門實(shí)時報警技術(shù)自動探傷設(shè)備對報警的實(shí)時性要求很高。傳統(tǒng)的探傷設(shè)備的閘門報警是由模擬電路實(shí)現(xiàn)的,需要閘門的動態(tài)補(bǔ)償。這部分電路雖能滿足報警實(shí)時性,但結(jié)構(gòu)復(fù)雜,易受干擾。探傷設(shè)備全數(shù)字化后,出現(xiàn)了軟閘門報警技術(shù),即采用軟件的方法進(jìn)行波形閘門比較。其優(yōu)點(diǎn)在于閘門的設(shè)定非常靈活,控制簡單,操作可靠,結(jié)合各種抗干擾數(shù)字濾波技術(shù),可以極...

2D x-ray圖8當(dāng)應(yīng)用2D x-ray技術(shù)時，所有的器件都需要被布置在 PCB的正面。而用2Dx-ray去檢測這些器件時，還必須再定 義出一塊沒有器件的地方為“禁區(qū)”。對于有些BGAs，會 推薦使用一種淚滴型的不對稱焊盤設(shè)計，這使得焊錫的成 型性質(zhì)被系統(tǒng)錯誤的判斷為一種幾何的連接形態(tài)；此外， 一些特殊的QFN向內(nèi)或向外的彎月型焊盤設(shè)計也同樣有這種情況。QFN 焊盤設(shè)計QFN器件的焊盤尺寸、焊膏印 刷面積與它的引腳尺寸是同樣大小 的，而且器件的引腳是交錯排列在 封裝體底部的(圖8)。運(yùn)用高速高精度視覺處理技術(shù)自動檢測PCB板上各種不同貼裝錯誤及焊接缺陷.高新區(qū)安裝自動化缺陷檢測設(shè)備批量定制適...

在元件頂上的內(nèi)容改變時，就需要大量的工作，確定門限值。這些可以納入到標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)庫中。在元件的一端立起來時，***其他環(huán)節(jié)的檢測，便可以進(jìn)行可靠的分析。對于橋接的形成或者元件一端立起來的普遍看法，證明常常不是那樣。經(jīng)驗(yàn)表明，橋接的形成沒有改變，元件一端立起來的現(xiàn)像就會有所減少。轉(zhuǎn)到使用無鉛焊膏并不需要投資新的系統(tǒng)或者設(shè)備，只要使用的AOI系統(tǒng)配備了靈活的傳感器模塊、照明和軟件，就足以適應(yīng)這些變化了。國內(nèi)明銳理想 Magic Ray鐳晨 Maker-ray振華興VCTA視界焦點(diǎn)VIFO勁拓 JT矩子智能 JUTZE神州視覺ALEDER北京星河康帝思 SRC吉洋GEEYOO同向精密制定設(shè)計方針，可以有...

更加可行的方法是，取出確定每道工藝和元件變化的特性。這些變化可以分成不同的等級。如果在使用的工藝中，出現(xiàn)了一個新的變化，就要增加一個級別，來保證檢查的精確性。所有認(rèn)識到的和已知的缺陷都儲存起來，他們的類型和圖片可以用于AOI系統(tǒng)和全球數(shù)據(jù)庫里的檢查程序。我們沒有必要把一塊不同缺陷的電路板保存起來用于詳細(xì)的檢查。用AOI軟件核實(shí)真正的缺陷AOI軟件中有一個綜合性的驗(yàn)證功能，它能減少檢查的誤報，保證檢測程序無缺陷。它可以檢查儲存起來的有缺陷的樣品，例如，修理站存放的樣品，以及印刷了焊膏的空白印刷電路板。檢測系統(tǒng)配置顯微鏡級物像放大器與照明光源，采用線掃相機(jī)逐行拍攝技術(shù)實(shí)現(xiàn)高速采集 [2]。姑蘇區(qū)附...

● 對于不同產(chǎn)品的AOI全球檢查庫，有可能在當(dāng)?shù)剡M(jìn)行調(diào)整──這是AOI軟件必備的特性?！?貼片公差——進(jìn)料器常規(guī)的維護(hù)和校準(zhǔn)?！?確定檢查質(zhì)量：IPC標(biāo)準(zhǔn)2級——必須允許使用朝下的電阻器。組件趐起和共面性的檢測必須可靠。關(guān)于元件長度公差，不同的組件供應(yīng)商、電路板和無鉛焊料的供應(yīng)商都不可能沒有任何直接的影響。優(yōu)良的AOI程序應(yīng)該能夠應(yīng)付這些這影響。如果這些個別點(diǎn)的變化可以保持不變，那么就能夠相當(dāng)大地簡化AOI編程。經(jīng)研究得到的結(jié)論是，由于無鉛產(chǎn)生的影響，圖形對照系統(tǒng)無法得到適合的檢查結(jié)果，這是因?yàn)楹细竦臉悠纷兓?。制定設(shè)計方針，可以有效地簡化檢查和降低生 產(chǎn)成本。工業(yè)園區(qū)通用自動化缺陷檢測設(shè)備...

始終采用同樣的材料和產(chǎn)品，再加上優(yōu)化的PCB設(shè)計， 正如上面所描述的那樣，可以減小由于產(chǎn)品的變更對AOI/ AXI測試所造成的影響。在這里必須指出，比照所有用于 AOI和AXI 檢查的標(biāo)準(zhǔn)，PCB布局的建議可使檢查工藝適當(dāng) 簡化并更有效率。DFT可以提高缺陷的檢查率，減少誤報， 縮短編程時間和降低編程的難度，從而**終達(dá)到有效降低 產(chǎn)品制造成本的目的。對無缺陷生產(chǎn)來講，自動光學(xué)檢查（AOI）是必不可少的。在轉(zhuǎn)到使用無鉛工藝時，制造商將面臨新的挑戰(zhàn)，在生產(chǎn)中會出現(xiàn)其他的問題，引起了人們的關(guān)注。本文分析轉(zhuǎn)到無鉛工藝的整個過程，特別是在大規(guī)模生產(chǎn)中引進(jìn)了0402無鉛元件缺陷檢測是通過機(jī)器視覺技術(shù)對物...

暗場缺陷檢查設(shè)備是一種**于45納米及以上工藝半導(dǎo)體制造缺陷檢測的分析儀器。該設(shè)備通過低角度散射信號收集技術(shù)抑制前層噪音，顯著提高信噪比，同時具備檢測0.2微米級微粒缺陷與圖形缺陷的雙重能力 [1-3]。在滿足基本檢測靈敏度的條件下，其吞吐量可達(dá)每小時20片晶圓 [1-2]。主要應(yīng)用于集成電路研發(fā)領(lǐng)域，典型用戶包括上海集成電路研發(fā)中心有限公司采用低角度散射信號收集技術(shù)，通過優(yōu)化光學(xué)路徑抑制晶圓前層結(jié)構(gòu)產(chǎn)生的背景噪音，提升檢測信號與背景噪音的比例 [1-2]。深度學(xué)習(xí)模型：基于卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的特征提取技術(shù)，適用于復(fù)雜背景缺陷檢測.太倉整套自動化缺陷檢測設(shè)備銷售價格非金屬超聲波檢測儀是用于檢測混凝土...

AOI軟件中有一個綜合性的驗(yàn)證功能，它能減少檢查的誤報，保證檢測程序無缺陷。它可以檢查儲存起來的有缺陷的樣品，例如，修理站存放的樣品，以及印刷了焊膏的空白印刷電路板。在優(yōu)化階段，在這方面花時間的原因是為了不讓任何缺陷溜過去。所有已知的缺陷都必須檢查，同時要把允許出現(xiàn)的誤報數(shù)量做到**小。在針對減少誤報而對任何程序進(jìn)行調(diào)整時，要檢查一下，看看以前檢查出來的直正缺陷，是否得到維修站的證實(shí)。通過綜合的核實(shí)，保證檢查程序的質(zhì)量，用于專門的制造和核查，同時對誤報進(jìn)行追蹤。制定設(shè)計方針，可以有效地簡化檢查和降低生 產(chǎn)成本。昆山銷售自動化缺陷檢測設(shè)備按需定制人工檢查 AOI檢查pcb＜18*20 幾千個pa...

布局建議針對AOI檢查的PCB整體布局器件到PCB的邊緣應(yīng)該至少留有3mm（0.12”）的工 藝邊。片式器件必須優(yōu)先于圓柱形器件。布局上建議考慮 傳感器技術(shù)，因?yàn)橛袝r檢查只能通過垂直（正交）角度，而其他時候又需要一個輔助的角度來進(jìn)行。元器件圖2對一個穩(wěn)定的工藝過程來說，一個重要的因素是元器 件，這不僅與PCB上直接的器件布局有關(guān)，而且或多或少 也與“工藝流程設(shè)計”有關(guān)。元器件的采購趨勢是盡 可能地便宜，而不管它在顏色、尺寸等參數(shù)上的不同。不 幸的是，這些選擇在日后對AOI或AXI檢查過程中造成的影 響往往被忽略了。始終采用同樣的材料和產(chǎn)品能夠***地 減少檢查時間和誤報，而這些問題主要是通過元...

更加可行的方法是，取出確定每道工藝和元件變化的特性。這些變化可以分成不同的等級。如果在使用的工藝中，出現(xiàn)了一個新的變化，就要增加一個級別，來保證檢查的精確性。所有認(rèn)識到的和已知的缺陷都儲存起來，他們的類型和圖片可以用于AOI系統(tǒng)和全球數(shù)據(jù)庫里的檢查程序。我們沒有必要把一塊不同缺陷的電路板保存起來用于詳細(xì)的檢查。用AOI軟件核實(shí)真正的缺陷AOI軟件中有一個綜合性的驗(yàn)證功能，它能減少檢查的誤報，保證檢測程序無缺陷。它可以檢查儲存起來的有缺陷的樣品，例如，修理站存放的樣品，以及印刷了焊膏的空白印刷電路板。片式器件必須優(yōu)先于圓柱形器件?；⑶饏^(qū)安裝自動化缺陷檢測設(shè)備規(guī)格尺寸錫膏印刷之后如果錫膏印刷過程滿...

基準(zhǔn)點(diǎn)圖4設(shè)備可以檢查所有 類型的基準(zhǔn)點(diǎn)，而且任 何構(gòu)件都可以被定義成 一個基準(zhǔn)點(diǎn)。雖然三個基 準(zhǔn)點(diǎn)可以補(bǔ)償一塊單板的 變形，但通常情況下只需 要確定兩個基準(zhǔn)點(diǎn)就可以 了。每個基準(zhǔn)點(diǎn)至少離單 板邊緣5mm（0.2”）。 十字形、菱形、星形等比較適用，并建議使用統(tǒng)一的黑背 景。此外，十字形的基準(zhǔn)點(diǎn)特別有優(yōu)勢，他們在檢測光下的圖像十分穩(wěn)定且可以被快速和容易地判定。。確認(rèn)壞板設(shè)備有能力檢查所有已知類型的壞板標(biāo)識。板上的任 何構(gòu)件都可以被定義為壞板標(biāo)識。這里建議采用與上述基 準(zhǔn)點(diǎn)的判定相類似的方法，即在可能的情況下，首先通過 檢查整板或已完成組裝的單板上的單個壞板標(biāo)識來進(jìn)行確 認(rèn)。板上每個單獨(dú)的壞板標(biāo)...

元器件尺寸IPC-7350標(biāo)準(zhǔn)描述了器件的尺寸，并對某些焊盤的尺 寸提出了建議。根據(jù)IPC標(biāo)準(zhǔn)，器件的長度和引腳的寬度可 以有一個較大變化范圍，相反，焊盤的尺寸卻是相對固定 的。此外，PCB制造公差的影響相對于這些器件的變化來說 也是是很小的。PCB的顏色和阻焊通常，設(shè)備能夠檢查 出所有不同單板的顏色， 盡管檢查中的某些細(xì)節(jié)處 理是不倚賴于顏色的。例 如， 一塊白色和一塊綠 色的PCB有著不同的對比 度，因此設(shè)備需要一些特 定的補(bǔ)償。在一種極端情 況下，橋接在亮背景下呈 現(xiàn)黑色，而在另一種極端情況下，橋接在黑背景下卻是呈現(xiàn)出亮色。這里我們建議 使用無光澤的阻焊層。在我們的實(shí)踐中，焊盤間（甚至是...

例如,根據(jù)回波信號的特點(diǎn)和探傷現(xiàn)場的干擾狀況,選擇不同的濾波器結(jié)構(gòu)、參數(shù)和不同的實(shí)時報警策略,這充分體現(xiàn)了虛擬儀器的優(yōu)點(diǎn)。 [2]高速A /D 及數(shù)字檢波技術(shù)超聲波缺陷信號時基時間寬度一般為0. 6～2. 0μs,上升測時間為10～ 40ns ,為了達(dá)到不失真采樣,對5M Hz工作頻率的超聲波探頭,至少需要40～60M Hz的采樣速度。傳統(tǒng)的數(shù)字化探傷設(shè)備,由于A /D采樣速度的限制,采樣前需要模擬包絡(luò)檢波。這導(dǎo)致了超聲波缺陷回波的細(xì)節(jié)失真,降低了對缺陷的分辨力。另外,由于全波或半波檢波,導(dǎo)致高增益時出現(xiàn)基線抬高的問題,影響了系統(tǒng)性能指標(biāo)。驅(qū)動機(jī)構(gòu)：控制檢測區(qū)域移動與翻轉(zhuǎn).常熟銷售自動化缺陷檢...

2D x-ray圖8當(dāng)應(yīng)用2D x-ray技術(shù)時，所有的器件都需要被布置在 PCB的正面。而用2Dx-ray去檢測這些器件時，還必須再定 義出一塊沒有器件的地方為“禁區(qū)”。對于有些BGAs，會 推薦使用一種淚滴型的不對稱焊盤設(shè)計，這使得焊錫的成 型性質(zhì)被系統(tǒng)錯誤的判斷為一種幾何的連接形態(tài)；此外， 一些特殊的QFN向內(nèi)或向外的彎月型焊盤設(shè)計也同樣有這種情況。QFN 焊盤設(shè)計QFN器件的焊盤尺寸、焊膏印 刷面積與它的引腳尺寸是同樣大小 的，而且器件的引腳是交錯排列在 封裝體底部的(圖8)。夾緊裝置：實(shí)現(xiàn)檢測物品的精確定位.張家港安裝自動化缺陷檢測設(shè)備銷售電話而采用高速A /D 芯片, 采樣速率60...

暗場缺陷檢查設(shè)備是一種**于45納米及以上工藝半導(dǎo)體制造缺陷檢測的分析儀器。該設(shè)備通過低角度散射信號收集技術(shù)抑制前層噪音，顯著提高信噪比，同時具備檢測0.2微米級微粒缺陷與圖形缺陷的雙重能力 [1-3]。在滿足基本檢測靈敏度的條件下，其吞吐量可達(dá)每小時20片晶圓 [1-2]。主要應(yīng)用于集成電路研發(fā)領(lǐng)域，典型用戶包括上海集成電路研發(fā)中心有限公司采用低角度散射信號收集技術(shù)，通過優(yōu)化光學(xué)路徑抑制晶圓前層結(jié)構(gòu)產(chǎn)生的背景噪音，提升檢測信號與背景噪音的比例 [1-2]。多光譜攝像頭：搭載可調(diào)式光學(xué)鏡頭組.工業(yè)園區(qū)重型自動化缺陷檢測設(shè)備按需定制過程跟蹤使用檢查設(shè)備來監(jiān)視生產(chǎn)過程。典型地包括詳細(xì)的缺陷分類和元...

自動探傷系統(tǒng)是利用超聲波探傷技術(shù)，滿足用戶對探傷的實(shí)時性要求,并實(shí)現(xiàn)實(shí)時報警、 缺陷定位和當(dāng)量計算的探測系統(tǒng)。超聲波探傷技術(shù)在無損檢測領(lǐng)域中占有極其重要的地位。 近年來, 計算機(jī)軟硬件技術(shù)、 高速數(shù)字信號處理技術(shù)、 虛擬儀器技術(shù)的發(fā)展, 使無損檢測技術(shù)在數(shù)據(jù)處理手段、 儀器檢測性能、 設(shè)備系統(tǒng)化和智能化程度方面取得了巨大進(jìn)步。 [1] 目前已經(jīng)誕生了多種數(shù)字化便攜式探傷儀 , 然而自動化超聲波探傷系統(tǒng)仍以多通道模擬方式為主自動探傷系統(tǒng)中，基于嵌入式DSP 子系統(tǒng)可以滿足用戶對探傷的實(shí)時性要求, 實(shí)現(xiàn)實(shí)時報警、 缺陷定位和當(dāng)量計算; 另一方面, 利用PC 機(jī)強(qiáng)大的處理能力和豐富的資源, 完成對缺...

配置ULPA過濾器，有效控制檢測環(huán)境中的微粒干擾；3.提供2英寸、3英寸、4英寸及6英寸的夾具適配方案，支持多規(guī)格晶片檢測需求。通過四頻道探測器實(shí)現(xiàn)多維數(shù)據(jù)分析：散射光頻道：捕捉表面散射信號以識別顆粒和微觀形變；反射光頻道：分析晶片反射特性，判斷劃痕和凹坑；項(xiàng)移頻道：檢測晶格結(jié)構(gòu)位移異常；Z頻道：測量縱向維度缺陷參數(shù)。設(shè)備集成以下自動化模塊 [1]：1.自動對焦系統(tǒng)：動態(tài)調(diào)整焦距確保檢測精度；2.機(jī)械手臂傳輸：實(shí)現(xiàn)晶片的精細(xì)定位與快速轉(zhuǎn)移，降低人工干預(yù)風(fēng)險；3.**環(huán)及片盒定位器：保障晶片在檢測過程中的穩(wěn)定姿態(tài)。通過使用AOI作為減少缺陷的工具，在裝配工藝過程的早期查找和消除錯誤，以實(shí)現(xiàn)良好的...

超聲波探傷超聲波在介質(zhì)中傳播時有多種波型，檢驗(yàn)中**常用的為縱波、橫波、表面波和板波。用縱波可探測金屬鑄錠、坯料、中厚板、大型鍛件和形狀比較簡單的制件中所存在的夾雜物、裂縫、縮管、白點(diǎn)、分層等缺陷；用橫波可探測管材中的周向和軸向裂縫、劃傷、焊縫中的氣孔、夾渣、裂縫、未焊透等缺陷；用表面波可探測形狀簡單的鑄件上的表面缺陷；用板波可探測薄板中的缺陷。如圖《DAUTD系統(tǒng)組成結(jié)構(gòu)》給出一個基于PC-DSP的數(shù)字化超聲波自動探傷系統(tǒng)( DAUTD)的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)。整個系統(tǒng)由探頭陣列、機(jī)械傳動裝置、傳動控制卡、4× 4模擬通道處理板、電源控制與同步觸發(fā)板、數(shù)字信號處理板、工控機(jī)及其外設(shè)組成。運(yùn)用豐富的多功能...

印刷圖案圖3所有印有圖案的PCB也是能夠被檢查的，例如，當(dāng)元 器件的邊框或元器件本體上的字母單獨(dú)出現(xiàn)在組件的某個 區(qū)域從而干擾對其他部分的檢查時，可以手工調(diào)整檢查程 序。盡管如此，在生產(chǎn)允許的范圍內(nèi)，圖案的印刷范圍仍 然有一個較大的選擇，因此，減少非反射性標(biāo)識印刷（黑 或暗黃）值得加以考慮。另外一個可能出現(xiàn)的情況是需要 有選擇地印刷標(biāo)識：例如，當(dāng)某些特定的器件（如霍爾傳 感器）正面向下時就必須印刷成白色；而另一種情況是印 有極性標(biāo)志的有傾斜角的鉭電容器件；這樣能使標(biāo)識和背 景形成鮮明的對比，使得檢查的圖像更加清晰。刷錫后貼片前：橋接-移位-無錫-錫不足.工業(yè)園區(qū)附近自動化缺陷檢測設(shè)備銷售廠元器...

非金屬超聲波檢測儀是用于檢測混凝土強(qiáng)度、裂縫深度、勻質(zhì)性及內(nèi)部缺陷的專業(yè)設(shè)備，廣泛應(yīng)用于建筑基樁完整性評估、結(jié)構(gòu)缺陷檢測和巖土工程勘察領(lǐng)域 [1] [3] [5]。該設(shè)備通過超聲波透射法、回彈綜合法實(shí)現(xiàn)非破壞性檢測，可識別損傷層厚度并評估材料力學(xué)性能，檢測穿透距離可達(dá)10米（電火花震源超過50米） [1-2] [6]。設(shè)備采用雙通道信號采集系統(tǒng)，配備高亮度彩屏和智能處理軟件，支持聲參量自動判讀與動態(tài)波形顯示（≥30幀/秒），聲時測讀精度達(dá)±0.05μs [1] [3] [6]。內(nèi)置大容量鋰電池可實(shí)現(xiàn)8-10小時續(xù)航，發(fā)射電壓可調(diào)范圍涵蓋250V至1000V，兼容一發(fā)雙收檢測模式 [2] [4]...