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DDR測試 什么是DDR？ DDR是雙倍數(shù)據(jù)速率(DoubleDataRate)。DDR與普通同步動態(tài)隨機內(nèi)存（DRAM）非常相象。普通同步DRAM（現(xiàn)在被稱為SDR）與標(biāo)準(zhǔn)DRAM有所不同。標(biāo)準(zhǔn)的DRAM接收的地址命令由二個地址字組成。為節(jié)省...

USB4.0 標(biāo)準(zhǔn)定義了非常詳細、復(fù)雜的發(fā)送端測試要求，需要對每 個 Type-C 口、每一條 lane、每一種速率下信號做 Preset Calibration、 Equalization Calibration； 然 后以次為基礎(chǔ)， 測試所有抖動 (TJ...

2.2TDR/TDT介紹當(dāng)?shù)诙€端口與同一傳輸線的遠端相連并且是接收機時，我們稱其為時域傳輸，或TDT。圖7所示為這種結(jié)構(gòu)的示意圖。組合測量互連的TDR響應(yīng)和TDT響應(yīng)能對互連的阻抗曲線、信號的速度、信號的衰減、介電常數(shù)、疊層材料的損耗因數(shù)和互連的帶寬進行精確...

信號完整性（英語：Signal integrity, SI）是對于電子信號質(zhì)量的一系列度量標(biāo)準(zhǔn)。在數(shù)字電路中，一串二進制的信號流是通過電壓（或電流）的波形來表示。然而，自然界的信號實際上都是模擬的，而非數(shù)字的，所有的信號都受噪音、扭曲和損失影響。在短距離、低比...

SI設(shè)計的特點1）不同是工程有不同的設(shè)計重點，要根據(jù)具體的工程進行有針對性的SI設(shè)計。對于局部總線，關(guān)注的是信號本身的質(zhì)量，對反射、串?dāng)_、電源濾波等幾個方面簡單的設(shè)計就能讓電路正常工作；在高速同步總線（如DDR）中，只關(guān)注反射串?dāng)_電源等基本問題還不夠。等等。2...

信號校準(zhǔn)服務(wù)默認情況下，當(dāng)矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（VNA）開啟時，其參考平面位于前面板。將電纜連接到被測設(shè)備時，校準(zhǔn)參考必須使用短路-開路-負載-直通法（SOLT）、直通反射線或直通反射匹配參考結(jié)構(gòu)。SOLT是常見的方法。電纜可以直接連接到DUT或夾具。夾具安裝在電纜...

DDR測試 測試頭設(shè)計模擬針對測試的設(shè)計（DFT）當(dāng)然收人歡迎，但卻不現(xiàn)實。因為自動測試儀的所需的測試時間與花費正比于內(nèi)存芯片的存儲容量。顯然測試大容量的DDR芯片花費是相當(dāng)可觀的。新型DDR芯片的通用DFT功能一直倍受重視，所以人們不斷試圖集結(jié)能有...

4）將Vref的去耦電容靠近Vref管腳擺放；Vtt的去耦電容擺放在遠的一個SDRAM外端；VDD的去耦電容需要靠近器件擺放。小電容值的去耦電容需要更靠近器件擺放。正確的去耦設(shè)計中，并不是所有的去耦電容都是靠近器件擺放的。所有的去耦電容的管腳都需要扇出后走線，...

基于Type-C接口還可以更好地支持Power Delivery技術(shù)，以實現(xiàn)更智能強大的 充電能力。即插即用、數(shù)據(jù)傳輸與充電合一是USB接口的一個重要特征。在USB2.0時 代，USB接口可以支持2.5W的供電能力(5V/500mA),到USB3.0時代提高到...

探索和設(shè)計信號完整性解決方案初步找到信號衰減的根本原因之后，您就需要研究并確定比較好的解決方案。首先，要執(zhí)行去除設(shè)計缺陷后的仿真測試，以驗證您確實找到了信號完整性衰減的根本原因。我們的建議是，與其將刪除有問題的區(qū)域作為解決方案，不如試著在接收機上添加均衡，例如...

性能特點USB2.0USB3.0USB3.1USB3.2USB4.0 發(fā)布時間2000年2008年2013年2017年2019年 比較高接口速率480Mbps5Gbps(Genl)10Gbps速率(Gen2)20Gbps(Gen2x2)40Gb...

示波器噪聲要想查看低電流和電壓值或是大信號的細微變化，您應(yīng)當(dāng)選擇具備低噪聲性能(高動態(tài)范圍)的示波器。注:您無法查看低于示波器本底噪聲的信號細節(jié)。如果示波器本底噪聲電平高于ADC的小量化電平，那么ADC的實際位數(shù)就達不到其標(biāo)稱位數(shù)應(yīng)達到的理想性能。示波器的噪聲...

6.信號及電源完整性這里的電源完整性指的是在比較大的信號切換情況下，其電源的容差性。當(dāng)未符合此容差要求時，將會導(dǎo)致很多的問題，比如加大時鐘抖動、數(shù)據(jù)抖動和串?dāng)_。這里，可以很好的理解與去偶相關(guān)的理論，現(xiàn)在從”目標(biāo)阻抗”的公式定義開始討論。Ztarget=Volt...

HDMI測試 HDMI(High Definition Multimedia Interface,高清多媒體接口)是于數(shù)字音/視頻 傳輸?shù)臄?shù)字顯示接口標(biāo)準(zhǔn)，其比較大特點是可以極高帶寬同時傳送高分辨率的數(shù)字視頻/音 頻/控制信號。 HDMI 的標(biāo)準(zhǔn)...

USB3.x發(fā)送端信號質(zhì)量測試在進行USB3.x發(fā)送端信號質(zhì)量測試時，會要求測試對象發(fā)出特定的測試碼型，用實時示波器對該碼型進行眼圖分析，并測量信號的幅度、抖動、平均數(shù)據(jù)率及上升/下降時間等。雖然看起來好像比較簡單，但實際上USB3.x針對超高速部分的信號測試...

自1995年USB1 .0 的規(guī)范發(fā)布以來， USB(Universal Serial Bus)接口標(biāo)準(zhǔn)經(jīng)過了20多 年的持續(xù)發(fā)展和更新，已經(jīng)成為PC和外設(shè)連接使用的接口。USB歷經(jīng)了多年的發(fā) 展，從代的USB1 .0低速(Low Speed) 、USB...

什麼是DDR內(nèi)存？如何測試？ 近幾年來，CPU的速度呈指數(shù)倍增長。然而，計算機內(nèi)存的速度增長確不盡人意。在1999年，大批量的PC133內(nèi)存替代PC100。其間，英特爾公司推出Rambus內(nèi)存作為PC工業(yè)的內(nèi)存解決方案。在內(nèi)存技術(shù)不斷發(fā)展的時代，每一...

c)EqualizationCalibration針對無源電纜的應(yīng)用場景，USB的發(fā)送端測試點在TP3。示波器在進行信號質(zhì)量分析前，需要模擬真實device，引入一個參考均衡算法，減輕有損電纜對信號質(zhì)量的惡化。USB4.0定義了這種參考均衡算法可以有多種不...

一項是信號完整性測試，特別是對于高速信號，信號完整性測試尤為關(guān)鍵。完整性的測試手段種類繁多，有頻域，也有時域的，還有一些綜合性的手段，比如誤碼測試。不管是哪一種測試手段，都存在這樣那樣的局限性，它們都只是針對某些特定的場景或者應(yīng)用而使用。只有選擇合...

DDR測試 DDRSDRAM即我們通常所說的DDR內(nèi)存，DDR內(nèi)存的發(fā)展已經(jīng)經(jīng)歷了五代，目前DDR4已經(jīng)成為市場的主流，DDR5也開始進入市場。對于DDR總線來說，我們通常說的速率是指其數(shù)據(jù)線上信號的快跳變速率。比如3200MT/s,對應(yīng)的工作時鐘速...

多通道傳輸：DisplayPort采用了多通道傳輸技術(shù)，可以在單個連接上傳輸多個信號通道，包括視頻、音頻和數(shù)據(jù)。這種設(shè)計使得DisplayPort具有更高的靈活性和可擴展性，可以滿足未來高分辨率、高幀率和高色彩深度的需求。 數(shù)據(jù)包傳輸：Display...

對于DDR2和DDR3，時鐘信號是以差分的形式傳輸?shù)模贒DR2里，DQS信號是以單端或差分方式通訊取決于其工作的速率，當(dāng)以高度速率工作時則采用差分的方式。顯然，在同樣的長度下，差分線的切換時延是小于單端線的。根據(jù)時序仿真的結(jié)果，時鐘信號和DQS也許需要比相...

USB測試 由 于 U S B 4 . 0 的 發(fā) 送 端 和 接 收 端 非 常 復(fù) 雜 ， 且 要 根 據(jù) 實 際 鏈 路 質(zhì) 量 進 行 協(xié) 商 和 調(diào) 整 。 為 了 方 便 進 行 鏈 路 協(xié) 商 的 信 息 交 互 ， U S B 4 ....

而DisplayPort一開始則面向液晶顯示器開發(fā)，采用“Micro-PacketArchitecture(微數(shù)據(jù)包架構(gòu))”傳輸架構(gòu)，視頻內(nèi)容以數(shù)據(jù)包方式傳送，這一點同DVI、HDMI等視頻傳輸技術(shù)有著明顯區(qū)別。也就是說，HDMI的出現(xiàn)取代模擬信號視頻，而Di...

DDR測試 什么是DDR？ DDR是雙倍數(shù)據(jù)速率(DoubleDataRate)。DDR與普通同步動態(tài)隨機內(nèi)存（DRAM）非常相象。普通同步DRAM（現(xiàn)在被稱為SDR）與標(biāo)準(zhǔn)DRAM有所不同。標(biāo)準(zhǔn)的DRAM接收的地址命令由二個地址字組成。為節(jié)省...

USB4.0 標(biāo)準(zhǔn)定義了非常詳細、復(fù)雜的發(fā)送端測試要求，需要對每 個 Type-C 口、每一條 lane、每一種速率下信號做 Preset Calibration、 Equalization Calibration； 然 后以次為基礎(chǔ)， 測試所有抖動 (TJ...

根據(jù)經(jīng)驗，如果比特率為BR，信號帶寬為BW，那么比較高正弦波頻率分量大約為BW=0.5xBR，或BR=2xBW。BW由能通過互連傳送的比較高頻率信號決定，并且其衰減仍低于SerDes可以補償?shù)闹怠Ｊ褂玫投说腟erDes時，可接受的插入損耗可能為-10分貝，...

USB4.0的接收容限測試 對于USB4.0的接收端來說，主要進行的是接收容限測試，用于驗證接收端在壓力信號(StressedElectricalSignal)下的表現(xiàn)。具體的測試項目包括壓力信號的誤碼率測試(BER)、突發(fā)誤碼率測試(MultiEr...

DDR測試 制定DDR內(nèi)存規(guī)范的標(biāo)準(zhǔn)按照JEDEC組織的定義，DDR4的比較高數(shù)據(jù)速率已經(jīng)達到了3200MT/s以上，DDR5的比較高數(shù)據(jù)速率則達到了6400MT/s以上。在2016年之前，LPDDR的速率發(fā)展一直比同一代的DDR要慢一點。但是從LP...

性能特點USB2.0USB3.0USB3.1USB3.2USB4.0 發(fā)布時間2000年2008年2013年2017年2019年 比較高接口速率480Mbps5Gbps(Genl)10Gbps速率(Gen2)20Gbps(Gen2x2)40Gb...